サイトマップ

Topics

• 展示会・イベント・セミナー

会社案内

• ご挨拶
• 企業理念・経営ビジョン
• 品質方針･品質目標
• 会社概要
• 事業内容
• 会社沿革
• 個人情報保護ポリシー
• 秘密保持ポリシー

認証取得について

• 認証・認定資格一覧

拠点所在地

技術論文

信頼性評価試験、故障・良品解析、環境試験

• 環境試験・特殊環境試験
• 鉛フリー実装評価
• プリント基板のイオンマイグレーション試験
• ICカード・RFID評価試験
• LED信頼性試験
• 故障解析
• 良品解析
• 観察・分析
• 非破壊検査
• X線透視解析例
• LSIプロセス診断
• デキャップソリューション
• 振動・衝撃試験
• 塵埃試験, 耐塵試験
• ガス腐食試験
• 耐水試験
• オゾン試験
• 塩水噴霧試験・キャス試験
• 熱衝撃試験
• IP試験（電気機械器具の外郭による保護等級試験）
• 環境試験設備一覧

デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価

• 各種テストプログラム開発関連業務
  • テストプログラム開発
  • 主なテストプログム開発（ボード含む）実績
  • テストベクタ作成・変換
• 測定技術支援
  • 特性測定・評価
  • 車載向けリニアデバイスの評価
  • GaN、SiCの高低温測定
  • ホールIC（近接磁気センサー）の動作確認事例
  • ベア・チップの評価・測定
  • WLR（Wafer Level Reliability）評価
  • 高耐圧デバイスの測定（IGBT）
  • PowerMOS-FETの測定
  • リカバリーダイオードのtrr測定
  • シュムプロットによるマージン解析
  • シグナル・インテグリティ(SI)解析のためのモデルパラメータ抽出
  • 信頼性シミュレーション
  • 測定データ評価環境構築
  • SPICEパラメータ評価環境構築
• スクリーニング
  • スクリーニングフロー例
  • 専用の治具製作によるスクリーニング
  • ダイナミックバーンイン試験
  • 受動部品のスクリーニング
• 信頼性評価試験

ESD(静電気放電)コンサル

• ESD試験/ラッチアップ（Latch-up）試験/静電気イミュニティ試験
• ESD/ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験サービス
• 組立工程のESD対策
• ESD保護設計コンサル
• ESD関連試験共通サービス

環境システム技術

• リアルタイム地震防災システム

化学分析・RoHS/REACH

• 成分分析・環境測定
• RoHS関連分析サービス
• REACH規則対応高懸念物質（SVHC）分析サービス
• ハロゲンフリー分析
• シップリサイクル法

電子部品化学物質情報検索サービスCOINServ®-Net(コインサーブネット)/グリーン調達

• 電子部品の情報検索サイトCOINServ®-Net(コインサーブネット)

EMC測定

• 車載（電装）対応EMC試験
• 製品安全試験

計測器校正

• 校正可能機器の例
• 校正ラベル
• 校正拠点（連絡先・担当者）
• JCSS認定事業者について

通信機器開発

• GKY-1305防爆形電話機
• 有線通信設備
• 通信機器評価・試験
• マスクテスト
• 技術基準適合検査（JATE申請）

お問い合わせ

本社

• お問い合わせ

信頼性技術事業部

• お問い合わせ

デバイス評価事業部

• お問い合わせ

環境事業部

• お問い合わせ

部品情報事業部

• お問い合わせ

通信機器事業部

• お問い合わせ

EMC事業部

• お問い合わせ

計測事業部

• お問い合わせ