観察・分析

部品・材料等の正確な解析・分析の為には微細構造を観察したり、元素を分析したりする事が必要です。また、信頼性試験に加えて［観察・元素分析］によって、物性を正確に理解・把握し、研究および開発を促進する有効な方法としても活用されています。実施例として、LSI・電子部品・材料等を走査型電子顕微鏡（SEM）やEDX（エネルギー分散型X線分光法）、透過型電子顕微鏡（TEM）によって、微細構造を観察／集束イオンビーム装置（FIB）による断面観察、電子線マイクロアナライザ（EPMA:Electron Probe Micro Analyzer）やフェーリエ変換型赤外線分光法を用いた有機物分析等、幅広い観察や分析を実施しています。

• 解析（故障／良品）・観察・分析
• 故障解析
• 良品解析
• 観察・分析
  • 非破壊検査
  • マイクロフォーカスX線CT・透過X線解析
  • 超音波探傷検査
  • デキャップソリューション（樹脂開封）
  • 断面加工・観察
  • 気密封止パッケージ内水分・残留ガス分析（IVA分析）
  • 気密性試験
  • Cuワイヤデバイスの解析技術
  • FE-EPMA WDX元素マッピング
• 熱過渡特性解析（熱抵抗測定）
• リチウムイオン二次電池解析
• 全固体電池の信頼性評価
• プリント基板総合解析
• LEDデバイス総合解析
• オンライン立会解析
• 現状の非破壊検査に満足していますか？
• よくあるご質問（FAQ）

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