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解析(故障/良品)・観察・分析

解析(故障/良品)・観察・分析

電子部品の信頼性試験、故障解析、良品解析、環境試験等お客様の製品の品質確認を目的とした試験、解析を実施、改善策をご提案いたします

LSI・抵抗・コンデンサ・スイッチ・コネクタ・プリント回路基板等電子部品から電気部品・接点まで広範囲の解析(故障/良品)・観察・分析を実施しています。

信頼性評価・故障解析・良品解析・観察・分析

電子機器から実装基板、電子部品(IC、LSI、MEMS等)、チップなどの品質を総合的に評価します。

信頼性評価の対応分野と技術ソリューション
信頼性評価の対応分野と技術ソリューション

故障解析

市場や実装工程で生じた電子部品の故障解析を行います。故障状態を把握し、特性の測定や様々な観察・解析により故障原因の究明を行います。

良品解析

電子部品は、電気的に良品であっても欠陥を内在している場合があります。良品解析は部品の顕在化していない欠陥を観察・分析手法を用いて調査する手法です。また、この考え方をデバイスレベルにまで広げ、LSIプロセス診断としてデバイスの潜在的欠陥の有無を調査する手法をご提案しております。

観察・分析

表面形状や断面形状などの光学顕微鏡観察や走査型・透過型電子顕微鏡観察および電子線マイクロアナライザによる元素分析を行っております。同時に、断面試料作製などの前処理も実施いたします。また、当社の他部門とのコラボレートにより、水抽出イオンの分析やプラスチック材料の赤外吸光分析、熱分析なども実施可能です。

解析(故障/良品)・観察・分析のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2354

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