OKIOpen up your dreams

Japan

OKIエンジニアリング

  • OKIホーム
  • サイトマップ
  • お問い合わせ
  • Global Site
 

現在位置:Home > サービス一覧 > 信頼性評価試験、故障・良品解析、環境試験


サービス一覧

信頼性評価試験、故障・良品解析、環境試験

信頼性評価・故障解析

各種電子部品(IC・チップコンデンサ・リレー・基板)やユニット・材料などの各種信頼性評価試験、電子部品の故障解析・分析を提供しており、30年を越える実績と経験で幅広くご利用いただいています。また、ISO/IEC17025に基づいた独立試験所として認定を取得しており、公正で中立な第三者の立場で評価・解析を行うとともに、厳しい機密保持が義務づけられております。

信頼性評価試験サービス一覧

解析・診断

実装評価

信頼性評価試験 故障解析 良品解析 観察分析 環境試験 振動衝撃試験 ガス腐食試験 塩水噴霧試験 塵埃試験 劣化評価試験 耐久試験 故障率試験 鉛フリー実装評価 イオンマイグレーション試験 ESD静電気コンサル

故障解析

市場や実装工程で生じた電子部品の故障解析を行います。故障状態を把握し、特性の測定や様々な観察・解析により故障原因の究明を行います。

良品解析

電子部品は、電気的に良品であっても欠陥を内在している場合があります。良品解析は部品の顕在化していない欠陥を観察・分析手法を用いて調査する手法です。また、この考え方をデバイスレベルにまで広げ、LSIプロセス診断としてデバイスの潜在的欠陥の有無を調査する手法をご提案しております。

観察・分析

表面形状や断面形状などの光学顕微鏡観察や走査型・透過型電子顕微鏡観察および電子線マイクロアナライザによる元素分析を行っております。同時に、断面試料作製などの前処理も実施いたします。また、当社の他部門とのコラボレートにより、水抽出イオンの分析やプラスチック材料の赤外吸光分析、熱分析なども実施可能です。

環境試験

電子部品やユニットが実装時や使用時に受ける熱的ストレス(温度サイクル・熱衝撃)や機械的ストレス(振動・衝撃)を想定した試験を実施し、それらが動作することを確認する試験です。ご相談により、試験条件のご提案や試験治具の作製も行います。

振動・衝撃試験

輸送または使用中に機械的振動や衝撃を受ける自動車・機械部品、電気・電子部品、航空機部品およびそれらを使用した機器等に対して振動・衝撃を加え、信頼性評価を行います。

特殊環境試験

屋外・海辺など特殊環境下における電子部品やめっき製品等の耐久性を調査するための試験で、ガス腐食試験、塩水噴霧試験、塵埃試験(車載・電子部品から各種ユニットについて、空気中に浮遊する塵埃に対する耐じん性能を評価)などの特殊環境下での試験が実施できます。

劣化評価試験

使用中の電子部品の劣化状態を物理的または化学的に調査したり加速試験により余寿命を推定する試験です。

耐久試験

長期にわたるストレスに対する耐久性を評価するための高温・低温保管、高温バイアス試験、恒温・恒湿バイアス試験などの試験が実施可能で、ご相談により試験ジグの作製や材料の評価試験も実施いたします。

故障率試験

電子部品を規定条件下で動作させ故障状態を観測する寿命試験を実施することにより部品の故障率を求める試験です。また、故障部品の故障解析を行い、故障原因の確認も実施できます。

鉛フリー実装評価

鉛フリーはんだの実装は、はんだ組成や端子メッキなどの種類の多さから、さまざまな評価が求められております。デバイスの実装時の熱による影響や、端子のはんだ濡れ性、はんだ付け部の仕上がり状態、機械的強度やその経年変化、断面観察/分析など総合的な評価を実施できます。

プリント基板のイオンマイグレーション試験

近年、部品の狭ピッチ化、配線のファインパターン化が進み、配線パターン間の電気的絶縁信頼性がより重要になっています。イオンマイグレーション試験は高温高湿通電試験中に抵抗値変動をモニタリングすることで、プリント基板の絶縁信頼性を評価します。

ICカード・RFID評価試験

接触型ICカードのJIS X 6305-1、ISO7816-1等の規格に準拠した各種試験、さらに実際 の使用環境に応じた各種評価試験を実施いたします。また、非接触方型ICカード、 RFID(ICタグ,ICラベル)対応の各種試験、信頼性/耐久性試験方法等のご提案、 お客様のご希望に沿ったカスタム試験装置の設計・製造についても対応しております。

【お問い合わせ先】

  • 信頼性技術事業部
    • 電話:03-5920-2354 ファックス:03-5920-2306
    • 信頼性技術事業部メールアドレスお問い合わせはこちらから

ページの先頭へ