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サービス一覧

デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価

デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価

宇宙用・自動車用などの高信頼性部品評価の豊富な実績をベースに、高性能LSIテスタによる高速測定、アナログ混載回路の測定、ウエハレベルの高低温を含む特性評価およびテストベクタ変換・生成、テストプログラム作成ならびに測定ボード設計製作などの半導体LSI特性評価(LSIテスト)のソリューションをワンストップで提供します。

デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価の主な業種別サービス

デバイス評価のサービス内容項目をクリックいたしますと各項目の詳細ページに移動します。

デバイスの電気的特性・評価、信頼性評価のおもな業種別サービス一覧表 テストプログラム作成・変換 テストベクタ作成・変換 測定ボード設計製作 プローブガード設計・製作 ウエハ評価 特性測定・評価 スクリーニング 信頼性試験

デバイスの電気的特性測定・評価・信頼性試験の対応

OKIエンジニアリングのデバイス評価の特徴図 デバイスの特性測定・評価 デバイスの信頼性評価試験 測定ボード設計・製作 テストベクタ作成・変換 デバイスのテストプログラム作成・変換 プローブガード設計・製作
デバイスの特性測定・評価・信頼性評価試験の対応図

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主要設備

デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価で使用する主な設備です。お客様に御満足いただけるソリューションをお届けするために常時最適な保守点検を行っております。

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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