主要設備
OKIエンジニアリングが所有している主な設備です。お客様に御満足いただけるソリューションをお届けするために常時最適な保守点検を行っております。
B1500A 半導体デバイス・アナライザ
B1500A 半導体デバイス・アナライザ
- 構成
-
- ハイパワー(HP)SMU
- 高分解能(HR)SMU
- パルス発生ユニット PGU
- 容量測定ユニット CMU 1台
- 機能
-
- Windows XP Professional OSを搭載したPCベースの測定器
- 電流電圧 (IV) ユニット、キャパシタンス電圧 (CV) 測定器ユニット、パルス発生器ユニットが1台で電流電圧 (IV)、準静的/中周波数キャパシタンス-電圧 (CV) 測定をサポート
- Desktop EasyEXPERTソフトウェアによるオフラインでのデータ解析およびアプリケーション・テスト開発
- 信号源モニタ・ユニット (SMU) および他のモジュール・タイプ用の10個モジュール・スロット
リニアICテスタ ウィンテスト製 WTS-700
WTS-700ウィンテスト製アナログダイナミイックテストシステム
- Analog Pin Measure Unit概要
-
- 12pin/Board×2
- 各ピン毎に独立してVFIM/IFVM/VMの測定が可能
- 各ピン毎に14bitのメータ/12ピン毎に16bitメータ
- デルタ機能⇒APMUのピンにデルタDACの出力を加えることが可能
- Medium Power Pin Unit概要
-
- APMUよりも高電圧/高電流/高精度での測定可能
- 2ch搭載
- VFIM/IFVM/VM
- DC測定モード他パスル測定モード搭載
- フローティング電源に対応可能
- レンジの異なる2種類のタイプが存在
個別半導体(リニア)テスタ
- 型式
- MST2000(MSD製)
- 用途
- DCパラメータ測定
- 電圧電源
- 50Vmax
- バイアス電流分解能
- 0.025pA
- 対象デバイス
- オペアンプ,A/Dコンバータ,コンパレータ
レギュレータ,アナログスイッチ,デジタルIC
SoCテスタ アドバンテスト T6575
512CH、1TH

- DATA RATE
- max 500MHz
- TTB
- 64MW×3bit/pin VGC:4MW
- DPS
- 8V-2A 16CH、40V-80mA 8CH
- TG
- 6TE/pin
- オプション
- ALPG、IDDQ、A/D、D/A
ウエハ・プローバ 東京エレクトロン P12-XL
- 対応
- 12、8インチ(6インチ可能、ダイのみも可能)
- 高温
- ~125℃
- 低温
- ~-40℃
ロジックテスタ アドバンテスト T3347A
256CH、1TH (HV2)
- CLOCK RATE
- max 40MHz
- STEVバッファ
- 2MW×3bit/pin(VGCS64KW)
- DPS
- 8V-5A 2CH、8V-2A 2CH、8V-1A/30V-500mA 8CH
(8Vの計8CHのユニットのオプション) - TG
- 48TE、16STROBE
- オプション
- ALPG ADC
ロジックテスタ アドバンテスト T3320
256CH、1TH (HV2)
- CLOCK RATE
- max 30MHz
- STEVバッファ
- 64KW×3bit/pin VGCS 4KW
- DPS
- 8V-5A 2CH、30V-2A 2CH
- TG
- 24TE、8STROBE
- オプション
- ALPG
メモリテスタ アドバンテスト T5361
1TH、120Dr、4OI/O
- DATA RATE
- max 120MHz
- DPS
- 8V-5A 8CH、(一部40V 2A)
- ALPG
- 12X、12Y、8Z、18D
- AFM
- 4Mbit
TSA-71H(エスペック製):冷熱衝撃試験装置
- 方式
- 気槽(ダンパ切替えによる2ゾーンおよび3ゾーン方式)
- 風向き
- 平一方向
- 温度範囲
- 低温槽 -70~0℃、高温槽 60~200℃
- 試験時間設定
- 高温,低温,常温 0分~99時間59分
- サイクル設定数
- 1~9999回
- 内径寸法
- W41×H46×D37cm(TSA-71H-W)、W65×H46×D37cm(TSA-101S-W)
- デジタルプログラムコントローラ付き
T-2500AS(サーモニクス製):温度環境試験システム
- レンジ(℃)
- -85~230℃
- 精度(℃)
- ±1.0℃
- 安定度(℃)
- ±0.3℃
- 表示分解能(℃)
- 0.1℃
- トランジション時間(sec)
- 4