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現在位置:Home > サービス一覧 > デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価 > スクリーニング


サービス一覧

スクリーニング

OKIエンジニアリングでは30年の実績、 豊富な経験に基づく技術、 IECQ独立試験所認定による公正かつ中立的なデータの提供、 厳重な機密保持を実施しており、汎用デバイスに対し、MIL規格やその他ご要望の規格・標準に準拠したスクリーニングをご提供いたします。スクリーニングを行うデバイス、数量、条件、個数の情報をご提示いただければ、最適な費用/納期をご提案いたします。

スクリーニングサービス一覧

スクリーニング対応可能電子部品

ロジック系IC CPU・各種ドライバ・FPGA等
リニア系IC オペアンプ・コンパレータ・A/Dコンバータ・D/Aコンバータ等
メモリ系IC SRAM・DRAM・PROM・EEPROM等
個別部品 ダイオード・トランジスタ・サイリスタ・受動部品(抵抗・コンデンサ・コイル)等

スクリーニング実績例

スクリーニング実績デバイス例 メーカー 型名
ロジック系IC フリースケール MC68020
ザイログ Z16C30
テキサス TMS320VC33
日立 HD63450
バーブラウン ADS7825
リニア系IC MICROSEMI SMCJ30A
MS1004
LINEAR TECHNOLOGY LT1461
LT6234CS8
NEC 2SK1592
メモリ系IC 日立 HM6216255HJP-12
HN58C1001T
STマイクロ
M27C256B
24C系,93C系MICROWIREシリアルEEPROM

上記以外にも多様な品種のお取り扱いが可能です。是非一度ご相談ください。
※スクリーニング項目につきましては、別途ご相談により決定させていただきます。

使用機器

WTS-700(ウィンテスト製) リニアICテスタ(アナログダイナミックテスト)
T3347A(アドバンテスト製) VLSIテストシステム
T3320(アドバンテスト製) VLSIテストシステム
T6575(アドバンテスト製) SoCテストシステム
T5361(アドバンテスト製) メモリテストシステム
MST-2000(MSD製) VLSIテストシステム
T2500(サーモニクス製) 温度環境試験システム
TSA-71H(エスペック製) 水冷式熱衝撃槽

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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