スクリーニング
OKIエンジニアリングでは30年の実績、 豊富な経験に基づく技術、 IECQ独立試験所認定による公正かつ中立的なデータの提供、 厳重な機密保持を実施しており、汎用デバイスに対し、MIL規格やその他ご要望の規格・標準に準拠したスクリーニングをご提供いたします。スクリーニングを行うデバイス、数量、条件、個数の情報をご提示いただければ、最適な費用/納期をご提案いたします。
スクリーニングサービス一覧
スクリーニング対応可能電子部品
| ロジック系IC | CPU・各種ドライバ・FPGA等 |
|---|---|
| リニア系IC | オペアンプ・コンパレータ・A/Dコンバータ・D/Aコンバータ等 |
| メモリ系IC | SRAM・DRAM・PROM・EEPROM等 |
| 個別部品 | ダイオード・トランジスタ・サイリスタ・受動部品(抵抗・コンデンサ・コイル)等 |
スクリーニング実績例
| スクリーニング実績デバイス例 | メーカー | 型名 |
|---|---|---|
| ロジック系IC | フリースケール | MC68020 |
| ザイログ | Z16C30 | |
| テキサス | TMS320VC33 | |
| 日立 | HD63450 | |
| バーブラウン | ADS7825 | |
| リニア系IC | MICROSEMI | SMCJ30A MS1004 |
| LINEAR TECHNOLOGY | LT1461 LT6234CS8 |
|
| NEC | 2SK1592 | |
| メモリ系IC | 日立 | HM6216255HJP-12 HN58C1001T |
| STマイクロ |
M27C256B 24C系,93C系MICROWIREシリアルEEPROM |
上記以外にも多様な品種のお取り扱いが可能です。是非一度ご相談ください。
※スクリーニング項目につきましては、別途ご相談により決定させていただきます。
使用機器
| WTS-700(ウィンテスト製) | リニアICテスタ(アナログダイナミックテスト) | |
|---|---|---|
| T3347A(アドバンテスト製) | VLSIテストシステム | |
| T3320(アドバンテスト製) | VLSIテストシステム | |
| T6575(アドバンテスト製) | SoCテストシステム | |
| T5361(アドバンテスト製) | メモリテストシステム | |
| MST-2000(MSD製) | VLSIテストシステム | |
| T2500(サーモニクス製) | 温度環境試験システム | |
| TSA-71H(エスペック製) | 水冷式熱衝撃槽 | |