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現在位置:Home > サービス一覧 > デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価 > スクリーニング > 宇宙用FPGAのスクリーニング


サービス一覧

宇宙用FPGAのスクリーニング

宇宙分野にてFPGAを使用する場合には、高信頼性を確保する為にダイナミックバーンインによるスクリーニングが必要です。OKIエンジニアリングでは、独自に開発したダイナミックバーンイン装置により、宇宙用FPGAのスクリーニングを実施します。ご要望により、FPGAへのデータ書き込みから、LSIテスタによる電気的特性試験、ダイナミックバーンイン試験までワンストップにて対応します。

  • ダイナミックバーンイン試験によるスクリーニング
  • FPGAへのデータ書き込みからLSIテスタによる電気的特性試験
  • ダイナミックバーンイン試験までワンストップにて対応

ダイナミックバーンイン装置(OEG-DBS2)の特徴

  • 長大なテストパターンの実行が可能(最大1,000,000ステップ)
  • 最大256端子の信号端子に対応可能
  • 平行して最大4種類の異なるデータ書き込み品のバーンインが可能

対応部品(Actel製)

対応部品(Actel製)

  • RTAX250SL
  • RTAX2000S
  • RTXS32
  • RTSX72
  • RP1280A
  • RT14100A等

スクリーニング手順

スクリーニング手順

使用装置

使用装置

電子デバイスのスクリーニングで小惑星探査機「はやぶさ」に貢献

「はやぶさ」功労者感謝状を受章

OKIエンジニアリングは、小惑星探査機「はやぶさ」の信頼性向上に電子デバイス(FPGA)のスクリーニングを通じて貢献しました。この貢献に対し、「はやぶさプロジェクトサポートチーム」の一社として、平成22年12月、海江田宇宙開発担当大臣、高木文部科学大臣より感謝状を受賞しました。

  • 小惑星探査機はやぶさ
  • 感謝状
  • 感謝状

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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