- 2010年8月31日
- 2010年12月2日（木）～12月3日（金）の2日間開催の『第31回 表面科学セミナー』に当社の信頼性設計事業部：村原 大介 が講演いたします。
- 2010年8月24日
- 【プレスリリース】電子機器の防水性や防塵性を評価するIP試験のフルライン・サービスを提供開始いたしました。
- 2010年8月14日
- 10月5日～9日開催の『CEATEC JAPAN 2010』に出展します。ぜひ当社のブー スにお越しください。
- 2010年8月14日
- 9月30日開催の『半導体産業新聞FORUM』に当社の信頼性設計事業部：中村 隆治、デバイス評価事業部：加藤 且宏 が講演いたします。
- 2010年7月22日
- 【プレスリリース】当社EMCセンタは7月6日付けにて国際規格「ISO/IEC17025:2005」の試験所認定を取得しました。
- 2010年7月16日
- 『2010OEGセミナー』のご来場ありがとうございました。セミナーの発表内容を公開いたしましたのでご活用ください。
- 2010年7月2日
- 【REACH規則対応高懸念物質（SVHC）分析サービス】イオン付着質量分析（IA/MS）法を用いた安価で迅速なスクリーニングを開始いたしました。
- 2010年6月22日
- 『デキャップソリューション』の開封作業、レーザー開封観察例を掲載いたしました。
- 2010年6月3日
- 【第40回 信頼性・保全性シンポジウム】に参加します。また、当社の信頼性技術事業部 高森 圭、岡 克己、村原 大介がチュートリアル講演・発表を行います。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場ください。
- 2010年6月2日
- 【期間限定】7月31日まで
複雑化する各種電子部品の非破壊解析手法の一つとして、製品の安全性や構造についての調査をX線CT解析キャンペーンを行っておりましたがご好評につき7月31日まで延長となりましたので、ぜひこの機会にご利用ください。(PDFファイル 240KB)
- 2010年4月23日
- 信頼性環境試験の『LEDの信頼性試験』を掲載いたしました。
- 2010年4月13日
- 信頼性環境試験の『X線透視解析例』に携帯電話用リチウムイオン電池のX線CT観察例を追加掲載いたしました。
- 2010年4月13日
- 【期間限定】4月12日～5月31日まで
複雑化する各種電子部品の非破壊解析手法の一つとして、製品の安全性や構造についての調査をX線CT解析キャンペーンを行っております。(PDFファイル 240KB) - 2010年4月1日
- 電子部品の情報検索サイトCOINServR-Net(コインサーブネット)を 掲載いたしました。
- 2010年4月1日
- REACH規則対応 製品含有化学物質情報システムCOINServ®-COSMOS-R/R(コインサーブコスモスアールツー)は、本日付けで沖電気工業株式会社に移管されました。
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