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CTS社製テスタ向けテストソリューションサービス

CTS社製テスタ(CX1000D)
CTS社製テスタ(CX1000D)

OKIエンジニアリングは、Cloud Testing Service株式会社(以下、CTS社)のテスタCX1000P、CX1000D向けのテストプログラム開発および治具製作から評価、解析や従来のテスタ環境からCTS社製テスタへの移管をワンストップでご提供いたします。また、テスタレンタルサービスもご提供いたします。

CTS社製CX1000P、CX1000Dは、IT/クラウドを活用した新しいテスティング・サービス「CloudTesting™Service (CTS)」※1の柔軟かつ迅速なテスティング・サービス「所有する」から「利用する」テストシステムが利用可能です。

  • ※1:「CloudTesting™Service (CTS)」とは、最新のテスティング・ソリューションとクラウド・コンピューティングを融合させた、お客様のニーズに合ったテスティング環境をオンデマンドでご利用いただける新しいコンセプトの半導体テスティングです。月額課金制のTesting IPと呼ぶソフトウェアを組み合わせることによって、測定対象に応じた測定環境を自由に構築できるテストシステムです。必要な時に、必要な機能を、必要な分だけ、利用することができます。
  • 豊富なテストプログラム開発実績:CPU,画像処理IC,通信用IC,AD/DAコンバータ,メモリIC(フラッシュメモリ,SDカードなど)
  • 株式会社アドバンテストの各種テスタ環境(MOST,TDL等)からCloudTesting Labへの移管に対応
  • BOST(Built Out Self Test)、GPIB(General Purpose Interface Bus)を利用した外部測定機器制御を含めたトータルのテスト環境を構築が可能
  • テスタレンタルサービス:当社施設内のCTS社製テスタを有償にてご利用いただけます。

全ての測定アルゴリズムや解析ツールを搭載したデモ機を用意しています。当社の信頼性評価、故障解析環境と組み合わせた環境をご覧いただけます。

CX1000Dを利用したリレーテスト環境構築

CTS社製CX1000DはロジックIC向けテストシステムですが、本機器を用いてリレーのテスト環境を立ち上げました。

方法

CX1000DのGPIB、CW制御IPを用いて、外部機器および接続結線を制御し、リレーの特性を取得
外部機器としてコイル用電源、接点確認用マルチメータ、絶縁抵抗用SMUを使用

測定項目

CX1000Dを利用したリレーテスト環境構築

コイル抵抗
電圧印加抵抗測定
動作電圧
規格のMax電圧を印加し動作確認
復帰電圧
規格のMin電圧を印加し復帰確認
接点接触抵抗
接点の接触時の抵抗測定(ケルビン法にて)
バウンスタイム
接点オン後をファンクションテストにて確認
絶縁抵抗
接点間の絶縁抵抗を測定

基本構成

機能特性試験用

機能特性試験用

絶縁抵抗測定用

絶縁抵抗測定用

使用機器

メインテストシステム
CTS製 CX1000D
コイル用外部電源
200V対応
接点用マルチメータ
ケルビン法により接触抵抗測定対応
絶縁抵抗用SMU
500V印加による電流測定

各種信頼性評価試験サービス

測定技術支援

  • ※2:TDDB(Time Dependent Dielectric Breakdown)酸化膜経時破壊評価
  • ※3:TZDB(Time Zero Dielectric Breakdown)酸化膜瞬時絶縁破壊評価
  • ※4:HCI(Hot carrier injection)ホットキャリア注入評価

解析・観察・分析

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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