技術論文
技術論文
技術論文、および当社セミナー資料をPDFファイルにて公開いたします。ご活用ください。
2023年
- ≪招待講演≫日本の資源循環経済政策について [1.7MB]
経済産業省 産業技術環境局 資源循環経済課 課長補佐（総括担当）吉川 泰弘氏
- ≪招待講演≫植物材料と自動車 [3.3MB]
トヨタ車体株式会社 材料技術部主査 兼 静岡大学農学部ふじのくに CNF 寄付講座特任教授 農学博士 西村 拓也氏
- ≪招待講演≫宇宙実業社スカパーJSAT による ひまわりの衛星画像とそらたまごの天球画像による日射量予測：そらみえーるの取組み [7.0MB]
スカパーJSAT 株式会社 宇宙事業部門 Green Innovation そらみえーる CFT CFTリーダー 小渕 浩希氏
- 再生プラスチック成分分析および PFAS 含有量分析の解析事例 ～ 持続可能な社会実現のための化学分析としての取り組み ～ [2.6MB]
環境事業部 征矢 健司氏
- 実電磁波環境におけるマルチマテリアルのシールド特性評価 ～ 次世代自動車への適用に最適な評価方法の提案 ～ [629KB]
EMC事業部 丸山 敏彦氏
- 製品寿命を左右するリチウムイオン電池の評価 ～ 製品寿命は電池寿命で決まる ～ [1.4MB]
信頼性ソリューション事業部 小岩 賢太郎氏
2022年
- ≪招待講演≫腐食促進試験の国際標準化と試験機の開発 [7.7MB]
スガ試験機株式会社 代表取締役社長 須賀 茂雄氏
- 焼損事故予防のためのリチウムイオン電池の良品解析 ～電池周辺回路や搭載機器の焼損ダメージまで調査～ [4.5MB]
信頼性ソリューション事業部 坂木 洋平
- FT-IR分析による樹脂劣化解析 ～赤外吸収スペクトルのライブラリー構築～ [2.8MB]
環境事業部 東海林 千尋
- 大型試料の1000Hzまでの振動試験が可能な治具の開発 ～立方体治具より大きいプレート・補強治具の設計・検証～ [2.4MB]
システム評価事業部 岡野 直樹
- 近接する無線機器からの電波による電気製品への影響 ～波照射試験機を用いたEMC評価事例～ [1.8MB]
EMC事業部 佐藤 達郎
- 今、恒温恒湿槽の校正に要求されること ～一般校正とISO/IEC 17025認定校正の違い～ [8.1MB]
計測事業部 堀越 昭憲
2021年
- ≪招待講演≫車載用リチウムイオン二次電池の市場動向と技術動向 [7.7MB]
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 総括研究主幹 小林 弘典氏
- リチウムイオン電池の焼損事故調査 ～発火したリチウムイオン電池搭載製品の解析手法について～ [9.4MB]
信頼性ソリューション事業部 小岩 賢太郎
- 高絶縁データロガーを用いた故障時間常時モニタシステムの開発 ～ワイドギャップ半導体（SiC）の2社間比較による信頼性試験精度の検証～ [2.5MB]
信頼性ソリューション事業部 春日 智
- 電子機器に影響を及ぼすアウトガス（低分子シロキサン）～リレー接点材質・容量の違いによる検証～ [2.9MB]
環境事業部 棗田 次郎
- 車載用塩水試験規格の実施事例紹介 ～アルミニウムおよび鋼鉄の各種試験規格に対する耐腐食性の比較～ [8.1MB]
システム評価事業部 岩瀬 圭
- マルチメディア機器の製品安全規格について「IEC 62368-1」（資料公開は終了いたしました）
EMC事業部 小巻 英介
- 実例から解説する校正と不確かさ ～校正証明書に記載されている校正の不確かさとは～ [1.3MB]
計測事業部 岩谷 純也
- 不揮発性メモリーの最適評価 ～SSD向けJESD219A規格のSDカード最適評価への適用～ [1.2MB]
信頼性ソリューション事業部 長野 真人・出口 泰・加藤 且宏
システム評価事業部 小関 健哲
今井 康雄
2020年
- ≪招待講演≫燃料電池モビリティの国内・海外の最新動向 [2.9MB]
みずほ情報総研株式会社 サイエンスソリューション部 次長 米田 雅一氏
- 目的別良品解析の提案 ～目的に応じた解析によるコスト削減と納期短縮～ [2.3MB]
信頼性解析事業部 立山 博丈
- TLPを用いた実装基板のESD保護回路設計サービス ～ESD Design Windowを活用した確実なESD保護設計～ [2.0MB]
デバイス評価事業部 市川 憲治
- 蛍光X線分析の特徴を活かした解析手法 ～解析手法の最適化～ [2.5MB]
環境事業部 征矢 健司
- 車載EMCにおける磁界領域の信頼性確保 ～磁界領域試験のポイント～ [2.9MB]
EMC事業部 山本 直樹
- コネクターの信頼性試験と評価方法 ～車載コネクターの評価のポイント～ [2.6MB]
システム評価事業部 加藤 勇樹
2019年
- ≪招待講演≫次世代交通：その現状と未来 [4.1MB]
株式会社日本総合研究所 創発戦略センター 井上 岳一氏
- 車載EMC規格に対するOEGの取り組み ～国際規格と完成車メーカー規格との相違～ [1.7MB]
EMC事業部 山本 直樹
- 車載部品の硫化腐食 ～硫化原因物質の分析事例紹介～ [2.6MB]
環境事業部 西本 浩司
- 車載部品の硫化腐食 ～簡規格動向と各種規格試験への対応について～ [2.9MB]
システム評価事業部 小宮 有太
- ロックイン赤外線発熱解析法の効果的応用 ～非開示な回路を有する製品への故障解析アプローチ～ [8.6MB]
信頼性解析事業部 山本 剣
- 不揮発性メモリの最適評価へ向けた取り組み ～JESD219AのSDカードへの適用事例～ [2.3MB]
デバイス評価事業部 長野 真人
2018年
- ≪招待講演≫
新しい宇宙利用を切り拓く電子部品技術の研究開発 ～宇宙では何が求められ、何が技術課題なのか？～ [8MB]
宇宙航空研究開発機構（JAXA） 研究開発部門 第一研究ユニット（部品領域） 新藤 浩之氏
- 故障解析の新時代 ～最新の非破壊解析～ [3.8MB]
信頼性解析事業部 原 美帆
- 低銀はんだ実装の信頼性評価サービス ～多様化するはんだ種の接合部評価に向けて～ [6.4MB]
システム評価事業部 佐藤 晃太郎
- 樹脂材料の劣化迅速評価 ～簡易耐光性試験システム（紫外線照射･熱分解GC/MS）～ [3.5MB]
環境事業部 征矢 健司
- GaNパワーデバイスのESD故障（故障メカニズムの検証） [2MB]
デバイス評価事業部 加藤 且宏
- IATF16949規格における校正の重要性 ～規格要求事項とISO/IEC17025校正～ [1.8MB]
計測事業部 関口 弘之
- 紫外線照射昇温加熱放出ガス質量分析による耐候性加速試験 [1.7MB]
環境事業部 高貫 智久
2017年
- 次世代実装に向けた解析手法の開発 ～多方向トリミング加工法とFIBを合わせ次世代の断面構造解析を実現～ [2.5MB]
信頼性解析事業部 柳生 瑛子
- リバブレーションチャンバーによるイミュニティ試験の有効性 ～電磁障害環境下を模擬した試験～ [1.6MB]
EMC事業部 小嶋 拓也
- 特殊環境試験による劣化評価 ～LEDデバイスの劣化と再現試験～ [1.8MB]
システム評価事業部 佐藤 晃太郎
- メモリーのソフトエラー評価 ～JESD89-2に準拠したα線照射試験～ [953KB]
デバイス評価事業部 伊藤 和幸
- 樹脂中の難燃剤によるトラブル防止のための解析手法 ～絶縁障害の懸念となるリン化合物の含有解析～ [1.3MB]
環境事業部 征矢 健司
- リバブレーションチャンバーによるイミュニティ試験 [2.7MB]
EMC事業部 小嶋 拓也
2016年
- ≪招待講演≫SiC・GaNパワー半導体の最新技術・課題ならびにデバイス評価技術の重要性 [1.5MB]
国立大学法人 筑波大学 数理物質系 物理工学域 教授 岩室 憲幸氏
- 故障診断機能付きパワーサイクル試験機によるIGBTの寿命比較 [4.3MB]
デバイス評価事業部 加藤 且宏
- FE-TEMを用いた次世代デバイスの良品解析 [8.3MB]
信頼性解析事業部 大谷 直己
- 樹脂の劣化度合および劣化原因調査 [1.2MB]
環境事業部 征矢 健司
- 金属材料の腐食評価の一考察 [1.6MB]
システム評価事業部 安田 祐次郎
- EMC設計の成功ポイント [2.1MB]
EMC事業部 戸所 祐策
- 信頼性技術者が抱える問題と解決のための活動 [394KB]
信頼性解析事業部 味岡 恒夫
アンデン株式会社 土屋 英晴 - 電磁波ノイズの評価法（EMC）とノイズに強い基板の設計手法 [635KB]
EMC事業部 戸所 祐策
- SSD（Solid State Drive）信頼性評価の環境構築と実施事例～JESD219A準拠エンデュランス評価を拡充～ [1.8MB]
デバイス評価事業部 長野 真人
2015年
- ≪招待講演≫電子回路実装技術の動向とパワーデバイス実装技術の課題 [6.1MB]
大阪大学 産業科学研究所 教授 菅沼 克昭氏
- 次世代パワーデバイスの評価解析 [1.7MB]
信頼性解析事業部 長谷川 覚
- 部品実装基板の信頼性向上に役立つ総合評価 [1.2MB]
システム評価事業部 村原 大介
- 電磁波ノイズ可視化診断サービス [1.5MB]
EMC事業部 中島 大
- 接点障害が発生する低分子シロキサン濃度の閾値 [1.1MB]
環境事業部 棗田 次郎
- SSD（Solid State Drive）信頼性評価の環境構築と実施事例 [1.1MB]
デバイス評価事業部 長野 真人
- 不揮発性メモリの信頼性評価 [585KB]
デバイス評価事業部 長野 真人・小関 健哲・岩井 泰之・今井 康雄
- 第4級アンモニウム塩を含む非懸濁浴からのZn-AlOx(OH)y複合電析 [416KB]
信頼性解析事業部 矢部 一博
関東学院大学 工学部 一寸木 健太・渡辺 宣朗・小岩 一郎 - 部品実装基板のための総合解析システム [938KB]
システム評価事業部 村原 大介・中嶋 龍一・今井 康雄・中村 隆治・味岡 恒夫
- ガスクロマトグラフFPD法を用いたLEDの硫化現象と硫黄系アウトガスの解析 [816KB]
環境事業部 鈴木 康之
- 社会インフラを支えるEMCと製品安全試験 [783KB]
EMC事業部 玉手 泰将・多田 雅則・戸所 佑策・菊池 秀克
2014年
- ≪招待講演≫カーエレクトロニクスの信頼性－デバイス・ECU・車両の三位一体での信頼性作り込み－ [1.4MB]
日産自動車株式会社 第一電子技術開発本部 田中 裕史氏
- SiCデバイスの良品構造解析 [3.8MB]
信頼性解析事業部 久保田 英久
- 不揮発性メモリの信頼性評価事例 [1.3MB]
デバイス評価事業部 長野 真人
- 車載用機器の環境試験～動向と最新事例～ [2.1MB]
システム評価事業部 冬木 健次
- 製品安全を確実にするリスクアセスメントの手順 [1.1MB]
EMC事業部 玉手 泰将
- 電子部品情報調査の最新動向と新規サービス [653KB]
部品情報事業部 金子 和成
- ロックイン赤外線発熱解析を用いた実装基板の故障解析 [604KB]
信頼性解析事業部 味岡 恒夫
- SiC デバイス（FET）の良品構造解析手法 [716KB]
信頼性解析事業部 大谷 直己
2013年
- ≪招待講演≫LSI故障解析技術の現状－日常利用技術から開発中の技術まで－ [8.4MB]
金沢工業大学 大学院工学研究科 客員教授 二川 清氏
- ロックイン赤外線発熱解析法を用いた故障解析サービス [4.4MB]
信頼性技術事業部 山本 剣
- 硫黄系アウトガスによる電子機器の障害事例 [1.9MB]
環境事業部 鈴木 康之
- LED照明（器具）製品の配光測定と評価試験の応用例 [4.8MB]
信頼性技術事業部 野口 高
- 電源モジュールの安全性・信頼性評価 [1.3MB]
デバイス評価事業部 加藤 且宏
- EMC設計アドバイザーを用いたEMI抑制サービス [3.1MB]
EMC事業部 戸所 祐策
- ロックイン赤外線発熱解析法を用いた故障解析サービス [2.6MB]
信頼性技術事業部 高森 圭・中村 隆治・味岡 恒夫
2012年
- ≪招待講演≫次世代半導体照明（SSL）成長戦略とLED光源（照明）産業の動向 [5.6MB]
一般社団法人LED光源普及開発機構 代表理事 小林 治彦氏
- LEDの環境試験における劣化と寿命－2m積分球による光学測定システムの紹介－ [2.1MB]
信頼性技術事業部 岡 克己
- 電源モジュールの安全性・信頼性評価－スマート社会の実現に向けた省エネルギー技術と安全性検証－ [2.3MB]
デバイス評価事業部 加藤 且宏
- 濃度管理型シロキサン暴露試験 [884KB]
環境事業部 鈴木 康之
- RoHS指令とREACH規則における含有化学物質の効率的な情報収集 [2MB]
部品情報事業部 春日 伸一
- スマート社会に寄与するEMC・安全試験 [1.7MB]
EMC事業部 多田 雅則
2011年
- ≪招待講演≫電子機器の熱設計と部品の熱特性 [1.4MB]
株式会社サーマルデザインラボ 代表取締役 国峯 尚樹氏
- LEDの熱特性評価サービスと応用事例 [1.1MB]
信頼性技術事業部 清水 亙
- イオンポリッシング技術によるECO製品の解析事例 [8.3MB]
信頼性技術事業部 山本 剣
- 製品の小型・軽量化による接点障害の解析事例（低分子シロキサン解析）[4.3MB]
環境事業部 高貫 智久
- LED照明の品質確保に向けて [1.8MB]
EMC事業部 白井 秀泰
- 電子部品の技術・環境情報調査サービス（多様化・複雑化する情報収集業務について）[2.1MB]
部品情報事業部 磯野 隆義
- LEDデバイス総合解析システムの受託サービス [490KB]
信頼性技術事業部 中村 隆治・中嶋 龍一・矢部 一博・高森 圭・味岡 恒夫
- 低分子シロキサンによる接点障害の解析・評価サービス [983KB]
環境事業部 高貫 智久
- LED照明のEMC試験サービス [934KB]
EMC事業部 菊池 秀克・金谷 真利子・多田 雅則・白井 秀泰
- 静電気保護回路設計手法の開発 [204KB]
デバイス評価事業部 馬場 俊祐・市川 憲治・加藤 且宏
事業支援部 黒田 俊一
2010年
- ≪招待講演≫最近の車の電子化と車載部品の信頼性 [2.5MB]
株式会社デンソー デバイス開発部 岩森 則行氏
- 自動車用部品の評価事例 [808KB]
デバイス評価事業部 前角 知生
- 欧州REACH完全対応、高懸念物質分析 [1.3MB]
環境事業部 征矢 健司
- 電子機器の信頼性向上に役立つ熱解析 [863KB]
信頼性技術事業部 清水 亙
- 車載EMC試験の注意点（ハーネスの影響）[1.2MB]
EMC事業部 丸山 敏彦
- ≪展望≫電子デバイス・モジュールの最新評価技術 [550KB]
信頼性技術事業部 今井 康雄
- 電子デバイス・モジュールの最新評価技術 [555KB]
信頼性技術事業部 今井 康雄・田中 大起・福田 保裕・矢部 一博
- 部品グリーン調達支援 [683KB]
部品情報事業部 江森 雄二・金井 善明・春日 伸一
環境事業部 高貫 智久
2009年
- 太陽電池製造向け排ガス処理・排水リサイクルシステムのご提案 [1MB]
環境事業部 白坂 祐一郎
- AEC-Q100 車載用IC 高温ラッチアップ試験の落とし穴 [597KB]
信頼性設計事業部 加藤 且宏
- 高信頼性部品のダイナミック・バーンイン [522KB]
デバイス評価事業部 長野 真人
- 太陽電池・MEMS への解析アプローチ [4.8MB]
信頼性技術事業部 清水 亙
2008年
- ≪招待講演≫LSIの総合的な解析技術について [8.2MB]
デバイス・アナリシス株式会社 代表取締役社長 中島 蕃氏
- LSIの信頼性評価～ウェハレベルの評価手法について～ [1.5MB]
デバイス評価事業部 出口 泰
- 最新のLSIプロセス診断技術とパターン解析技術 [15.5MB]
信頼性技術事業部 村原 大介
- 蛍光X線による特定有害物質の評価 [1.1MB]
環境事業部 征矢 健司
- 製品安全の取組み [1MB]
EMC事業部 板坂 優一
- 車載電子部品におけるESD、ラッチアップ試験の動向と実績 [1.8MB]
信頼性設計事業部 加藤 且宏
2007年
- ≪招待講演≫中国版RoHS規制とREACH規制の動向 [3.8MB]
日本電子株式会社 松浦 徹也氏
- 半導体デバイスの静電気保護 [620KB]
信頼性設計事業部長 福田 保裕
- 静電気対策ならびにその効果－EMC事例の紹介－ [829KB]
EMC事業部 多田 雅則
- 鉛フリーはんだ基板実装における信頼性試験 [891KB]
信頼性技術事業部 中嶋 龍一
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