ソフトエラー評価
ソフトエラーは、今や大容量ルーターやサーバー機、航空機や医療機器などの とりわけ高い信頼性が必要な機器だけが直面する問題ではなくなり、 自動車やデジタル家電など、広い分野にわたって対処を求められる可能性が 高くなってきています。 OKIエンジニアリングでは、こういった半導体メモリーに対するソフトエラー評価をご提供しています。
ソフトエラー試験サービス
- 取り扱いやすいアメリシウム使用により、ソフトエラー試験が容易に実現できます。
- LSIテスタを使用しており、試料の動作条件を容易に変更できます。
- 試料の開封から測定までを、一貫してお引き受けします。
ソフトエラー試験概要
- 開封し、ICチップを露出させる。
- 露出面にα線を照射し動作を観測する。
ソフトエラー試験概要
ソフトエラー試験の流れ・ソフトエラー試験結果（SRAMの例）
ソフトエラー試験結果（SRAMの例）
- サンプル入手
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X線検査（開封面）
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測定用ボード・測定用プログラム作成
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事前動作確認 ※1
- 開封
- 開封後動作確認 ※2
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ソフトエラー試験
- 結果報告
- ※1：開封していないサンプルが正常であることを確認
- ※2：開封後、サンプルが故障していないことの確認
【お問い合わせ先】
- デバイス評価事業部
- 電話：03-5920-2366 ファックス：03-5920-2306
