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現在位置:Home > サービス一覧 > デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価 > AEC-Q100試験


サービス一覧

AEC-Q100試験自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応

AEC-Q100 は、オートモーティブ集積回路(IC)のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用半導体向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。

AEC-Q100 試験内容

AEC-Q100 環境ストレス試験

参照規格 記号 試験項目内容
JESD22 A113
J-STD-020
PC 前処理
SMD only;Moisture Preconditioning for THB/HAST,AC/UHST,TC,&PTC
JESD22 A101
JESD22 A110
THB or
HAST
高温高湿バイアス試験
超加速寿命試験
JESD22 A102 or
JESD22 A118
AC or
UHST
オートクレーブ
バイアスなし超加速寿命試験
JESD22 A104 TC 温度サイクル試験
JESD22 A105 PTC パワー温度サイクル試験

AEC-Q100 加速寿命試験

参照規格 記号 試験項目内容
JESD22 A108 HTOL 高温動作寿命
AEC-Q100-0008 ELFR 初期不良
AEC-Q100-0005 EDR 繰り返し書き換え試験、データ保持試験

AEC-Q100 パッケージアセンブリ保全試験

参照規格 記号 試験項目内容
AEC-Q100-001 WBS ワイヤボンディングシェア強度
Mil-STD-883
Method2011
WBP ワイヤボンディング引っ張り強度
JESD22 B102 SD はんだ濡れ性
JESD22 B100
JESD22 B108
PD 寸法(物理ディメンジョン)
AEC-Q100-010 SBS はんだボンディングシェア強度
JESD22 B105 LI 端子強度

AEC-Q100 ダイレベル信頼性試験

参照規格 記号 試験項目内容
JESD61 EM エレクトロマイグレーション
JESD35 TDDB 経時的酸化膜寿命 
JESD60&28 HCI ホットキャリア注入試験
JESD90 NBTI 負バイアス温度不安定性
JESD61,87,&202 SM ストレスマイグレーション

AEC-Q100 電気的特性確認

参照規格 記号 試験項目内容
User/Supplier Specification TEST Pre and Post Stress Electrical Test
AEC-Q100-002
AEC-Q100-003
HBM/MM 人体モデル/マシンモデル
AEC-Q100-011 CDM デバイス帯電モデル
AEC-Q100-004 LU ラッチアップ
AEC-Q100-009 ED 特性選別
AEC-Q100-006 GL ゲートリーク

AEC-Q100 キャビティーパッケージ試験(セラミックパッケージ)

参照規格 記号 試験項目内容
JESD22 B104 MS 衝撃試験
JESD22 B103 VFV 振動試験
MIL-STD-883
Method 2001
CA 定加速度試験
MIL-STD-883
Method 1014
GFL グロスリーク試験、ファインリーク試験
- DROP

落下試験

MIL-STD-883
Method 2004
LT リードトルク試験
MIL-STD-883
Method 2019
DS ダイシュアー試験
MIL-STD-883
Method 1018
IWV 内部水蒸気の含有率試験

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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