ESD試験/ラッチアップ（Latch-up）試験/静電気イミュニティ試験
IECQ独立試験所認定
お客様から「JEDEC規格のESD試験結果が欲しい」とか、「車載品のラッチアップ試験の実力評価を実施して欲しい」などの要求で、戸惑った経験はありませんか？OKIエンジニアリングでは、半導体デバイスに要求されるESD（静電破壊）試験とラッチアップ試験を提供しております。国内外の試験規格に精通した担当者が、お客様の製品に適用すべき最適な試験プランのご相談を承ります。試験に必要な部材の調達を始め、少ピン数のデバイスの場合には、お客様のデバイスを既存の部材を使用して試験できるようにするQuick Look試験サービスのご相談も承ります。当社は、IECQ独立試験所認定を受けており、公正中立な第三者機関として、国内外の何処にでも通用する質の高いESD/ラッチアップ試験の提供をお約束します。
ESD試験
ESD試験とはESD事故を防止、管理するために、各種ESD（静電気放電）耐性を確認、評価する試験です。
- 国内外の公的試験規格（表1）に準拠したESD試験をご提供します。
- 試験規格に関するご質問や、サンプル数に応じた試験プランの提案も承ります。
- 試験装置（図1、図3）に必要な専用試験ボード（図2、図4）の作製を承ります。
- 09年7月時点でHBM/MM用汎用試験ボードを70枚、CDM試験ボードを30枚用意しております。お客様の試験デバイスパッケージが、既存ボードに合えばボードの作製は不要となります。
- ボード作製にはソケットが必要です。ソケットが無い場合は、ソケットの注文から手配を承ります。
- 少ピン数デバイスの場合、専用試験ボードを作製せず、既存の試験ボードで代用するQuick Look試験も承ります。（図5.1、5.2）
表1．ESD試験規格
| 試験方法 | 準拠規格 | 主な試験条件 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 日本 | 米国 | 欧州 | ||||
| 一般 | 車載 | |||||
| 人体モデル HBM：Human Body Model |
JEITA ED4701 300-2 | JESD22- A114F ESDA STM 5.1 |
AEC-Q100-002 | IEC 61340 3-1 | 放電容量＝100pF、放電抵抗=1.5kΩ パルス印加数：両極各1回 試料数：3個×試験電圧×印加組合せ |
|
| マシンモデル MM：Machine Model |
EIAJ ED4701-1(1994) | JESD22-A115A ESDA STM 5.2 |
AEC-Q100-003 | IEC 61340 3-2 | 放電容量＝200pF、放電抵抗=0Ω パルス印加数：両極各1回又は3回 試料数：3個×試験電圧×印加組合せ |
|
| デバイス帯電モデル Charged Device Model |
Direct CDM | JEITA ED4701 300-2 | ESDA STM 5.3.1 | AEC-Q100-011 | IEC 61340 3-3 | 放電容量、放電抵抗；デバイス個別 パルス印加数：両極各1回又は3回 試験周囲温度：室温 試料数：3個×印加電圧 |
| Field Induced CDM | EIAJ ED4701-1(1994) | JESD22-C101D ESDA STM 5.3.1 |
AEC-Q100-011 | IEC 61340 3-3 | ||
図4．CDM試験ボード
図5.1．Quick Look試験用サンプル作成例
図5.2．Quick Look試験用サンプル作成例
ラッチアップ（Latch-up）試験
CMOSデバイスは、構造上デバイス内部にバイポーラ型の寄生トランジスタ回路が構成され、それがサイリスタと同じ構成になることから、外来サージ等でトリガされるとこのサイリスタがターンオンし、過大な電流が流れ続けます。この過大な電流が流れ続けるラッチアップ現象に対する耐性を評価する為の試験です。
- 国内外の公的試験規格（表2）に準拠したラッチアップ試験をご提供します。
- 試験規格に関するご質問や、サンプル数に応じた試験プランの提案も承ります。
- 試験装置（図1）に必要な専用試験ボード（図2）の作製を承ります。
- 09年7月時点でラッチアップ用汎用試験ボードを70枚用意しております。
- ボード作製にはソケットが必要です。ソケットが無い場合は、ソケットの注文から手配を承ります。
- 少ピン数デバイスの場合、専用試験ボードを作製せず、既存の試験ボードで代用するQuick Look試験も承ります。（図5.1、5.2）
表2．ラッチアップ試験規格
| 試験方法 | 準拠規格 | 主な試験条件 | |||
|---|---|---|---|---|---|
| 日本 | 米国 | 欧州 | |||
| 一般 | 車載 | ||||
| パルス電流注入法 I-Test |
JEITA ED4701 300-2 | JESD 78B | AEC-Q100-004 | IEC 60749-29 | パルス幅：10us～1s パルス印加数：単一極性1回 試験周囲温度：室温又は最大動作保証温度 |
| 電源過電圧法 Supply Over Voltage Test |
|||||
| コンデンサ放電法 C-Charge Test |
EIAJ委員会内部資料 AB-6201(1987) |
- | - | - | 放電容量＝200pF、放電抵抗=0Ω パルス印加数：個別 試験周囲温度：個別 |
ラッチアップ（Latch-up）対策事例
ラッチアップ（Latch-up）対策事例
| 対象分野 | 顧客業種 | トラブル内容 | 原因と対策 |
|---|---|---|---|
| ラッチアップ | 半導体デバイス受託設計 | ラッチアップ耐性の目標値未達 | I/O端子直近内部回路のラッチアップ。 I/O端子の配線抵抗とガードリングを改良による対処をご提案。 |
静電気イミュニティ試験
半導体デバイス単体にも、そのデバイスが搭載される上位のシステムに要求される静電気イミュニティ試験（ガン方式ESD試験）耐性が求められるようになってきました。外部電子機器とのインターフェース端子やアンテナ接続端子など、まだ特定の数端子を対象とした要求ですが、当社はこのような個別の静電気イミュニティ試験にもお応えします。試験に必要な回路基板や部材の調達を始めとして、対象端子を効率よく試験するQuick Look試験のご相談も承ります。
- 国内外の公的試験規格（表3）に準拠した静電気イミュニティ 試験をご提供します。（イミュニティ試験を認定試験として行う場合は、当社EMCセンタで承ります）
- 試験規格に関するご質問や、サンプル数に応じた試験プランの 作成も承ります。
- 試験に必要な回路基板の作製や部材の調達を承ります。
- 放電容量や放電抵抗を任意条件に変更するご相談も承ります。
表3．静電気イミュニティ試験規格
| 試験方法 | 準拠規格 | 主な試験条件 | |
|---|---|---|---|
| 人体モデル HBM：Human Body Model |
一般品 | IEC 61000-4-2 | 放電容量=150pF、放電抵抗=330Ω
システムの導電性表面および結合板へ接触放電、および、絶縁性表面へ気中放電させる放電回数は、一箇所に付き10回以上。 |
| 車載品 | ISO 10605 JASO D010-00 |
放電容量=150pF又は330pF、放電抵抗=2kΩ 接触放電と気中放電の対象部位の規定無し。放電回数は、一箇所に付き正極3回、負極3回の6回以上。 |
|
静電気イミュニティ試験装置
ESD(静電気放電）ガン
静電気イミュニティ試験対策事例
静電気イミュニティ試験対策事例
| 対象分野 | 顧客業種 | トラブル内容 | 原因と対策 |
|---|---|---|---|
| ラッチアップ | 車載オーディオ機器製造 | イミュニティ試験の目標値未達 | LCDパネルの誘導帯電によるラッチアップ。 保護抵抗の追加による対処をご提案。 |
【お問い合わせ先】
- デバイス評価事業部
- 電話：03-5920-2366 ファックス：03-5920-2306
