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サービス一覧

ESD試験

ESD試験

ESD試験とはESD事故を防止、管理するために、各種ESD(静電気放電)耐性を確認、評価する試験です。

  • 国内外の公的試験規格(表1)に準拠したESD試験をご提供します。
  • 試験規格に関するご質問や、サンプル数に応じた試験プランの提案も承ります。
  • 試験装置(図1、図3)に必要な専用試験ボード(図2、図4)の作製を承ります。
  • 09年7月時点でHBM/MM用汎用試験ボードを70枚、CDM試験ボードを30枚用意しております。お客様の試験デバイスパッケージが、既存ボードに合えばボードの作製は不要となります。
  • ボード作製にはソケットが必要です。ソケットが無い場合は、ソケットの注文から手配を承ります。
  • 少ピン数デバイスの場合、専用試験ボードを作製せず、既存の試験ボードで代用するQuick Look試験も承ります。(図5.1、5.2

表1.ESD試験規格

試験方法 準拠規格 主な試験条件
日本 米国 欧州
一般 車載
人体モデル
HBM:Human Body Model
JEITA ED4701 300-2 JESD22- A114F
ESDA STM 5.1
AEC-Q100-002 IEC 61340 3-1 放電容量=100pF、放電抵抗=1.5kΩ
パルス印加数:両極各1回
試料数:3個×試験電圧×印加組合せ
マシンモデル
MM:Machine Model
EIAJ ED4701-1(1994) JESD22-A115A
ESDA STM 5.2
AEC-Q100-003 IEC 61340 3-2 放電容量=200pF、放電抵抗=0Ω
パルス印加数:両極各1回又は3回
試料数:3個×試験電圧×印加組合せ
デバイス帯電モデル
Charged Device Model
Direct CDM JEITA ED4701 300-2 ESDA STM 5.3.1 AEC-Q100-011 IEC 61340 3-3 放電容量、放電抵抗;デバイス個別
パルス印加数:両極各1回又は3回
試験周囲温度:室温
試料数:3個×印加電圧
Field Induced CDM EIAJ ED4701-1(1994) JESD22-C101D
ESDA STM 5.3.1
AEC-Q100-011 IEC 61340 3-3
  • HBM/MM/ラッチアップ試験装置
    図1.HBM/MM/ラッチアップ試験装置
  • HBM/MM/ラッチアップ試験ボード
    図2.HBM/MM/ラッチアップ試験ボード
  • CDM試験装置
    図3.CDM試験装置
  • CDM試験ボード
    図4.CDM試験ボード
  • Quick Look試験用サンプル作成例
    図5.1.Quick Look試験用サンプル作成例
  • Quick Look試験用サンプル作成例
    図5.2.Quick Look試験用サンプル作成例

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HBM:human body model:人体帯電モデル:人体に蓄積された静電気の放電(ESD)によってデバイスが損傷する現象
MM:machine model:マシンモデル:金属等に蓄積された静電気の放電(ESD)によってデバイスが損傷する現象
CDM:charged device model:デバイス帯電モデル:デバイスが直接、間接に帯電し、電位の異なった導体と端子が接触したときに発生する静電気放電(ESD)にてデバイスが損傷する現象

【お問い合わせ先】

  • デバイス評価事業部
    • 電話:03-5920-2366 ファックス:03-5920-2306

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