ESD試験
ESD試験
ESD試験とはESD事故を防止、管理するために、各種ESD（静電気放電）耐性を確認、評価する試験です。
- 国内外の公的試験規格（表1）に準拠したESD試験をご提供します。
- 試験規格に関するご質問や、サンプル数に応じた試験プランの提案も承ります。
- 試験装置（図1、図3）に必要な専用試験ボード（図2、図4）の作製を承ります。
- 09年7月時点でHBM/MM用汎用試験ボードを70枚、CDM試験ボードを30枚用意しております。お客様の試験デバイスパッケージが、既存ボードに合えばボードの作製は不要となります。
- ボード作製にはソケットが必要です。ソケットが無い場合は、ソケットの注文から手配を承ります。
- 少ピン数デバイスの場合、専用試験ボードを作製せず、既存の試験ボードで代用するQuick Look試験も承ります。（図5.1、5.2）
表1．ESD試験規格
| 試験方法 | 準拠規格 | 主な試験条件 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 日本 | 米国 | 欧州 | ||||
| 一般 | 車載 | |||||
| 人体モデル HBM：Human Body Model |
JEITA ED4701 300-2 | JESD22- A114F ESDA STM 5.1 |
AEC-Q100-002 | IEC 61340 3-1 | 放電容量＝100pF、放電抵抗=1.5kΩ パルス印加数：両極各1回 試料数：3個×試験電圧×印加組合せ |
|
| マシンモデル MM：Machine Model |
EIAJ ED4701-1（1994） | JESD22-A115A ESDA STM 5.2 |
AEC-Q100-003 | IEC 61340 3-2 | 放電容量＝200pF、放電抵抗=0Ω パルス印加数：両極各1回又は3回 試料数：3個×試験電圧×印加組合せ |
|
| デバイス帯電モデル Charged Device Model |
Direct CDM | JEITA ED4701 300-2 | ESDA STM 5.3.1 | AEC-Q100-011 | IEC 61340 3-3 | 放電容量、放電抵抗；デバイス個別 パルス印加数：両極各1回又は3回 試験周囲温度：室温 試料数：3個×印加電圧 |
| Field Induced CDM | EIAJ ED4701-1（1994） | JESD22-C101D ESDA STM 5.3.1 |
AEC-Q100-011 | IEC 61340 3-3 | ||
図4．CDM試験ボード
図5.1．Quick Look試験用サンプル作成例
図5.2．Quick Look試験用サンプル作成例
【お問い合わせ先】
- デバイス評価事業部
- 電話：03-5920-2366 ファックス：03-5920-2306
