現在位置：Home > サービス一覧 > 化学分析、RoHS/REACH > RoHS関連分析サービス

サービス一覧

RoHS関連分析サービス

電気・電子機器などの製品に含まれる微量なカドミウム、鉛等の含有がヨーロッパ諸国を中心に環境問題の観点から注目されております。これらの規制で許容レベルを超えると判断された場合は、製品の出荷が困難になります。
OKIエンジニアリングではRoHS指令対応（ELV指令、WEEE指令）のための既存製品の部品別評価・材料別評価から新製品（新設計品）の評価、出荷受入検査業務をワンストップソリューションでご提供します。

RoHS・REACH規制物質分析

RoHS指令（電気電子機器に含まれる特定有害物質使用制限指令　2002/95/EC）
ELV指令（廃自動車指令　2002/95/EC）
WEEE指令（廃電気電子機器指令　2002/95/EC）

材料・製品等に含まれる特定有害物質分析
材料・製品等に含まれる特定有害物質マッピング分析
イオン付着質量分析（IA/MS分析）

材料・製品等に含まれる特定有害物質分析

RoHS指令では、以下の表のようにカドミウム、鉛、六価クロム、水銀、PBDE、PBBの六物質が挙げられますが、そのすべてに対して対応しています。欧州で議論中の追加予定物質の測定にも対応しています。

RoHS指令　　規制6物質

規制六物質	略称等	最大許容濃度	主な用途
カドミウム	Cp	0.01wt%（100ppm）	樹脂不純物
鉛	Pb	0.1wt%（1000ppm）	はんだ・合金
六価クロム	Cr（Ⅵ）	0.1wt%（1000ppm）	めっき
水銀	Hg	0.1wt%（1000ppm）	蛍光灯
ポリ臭素化ジフェニルエーテル	PBDE	0.1wt%（1000ppm）	難燃剤
ポリ臭素化ビフェニル	PBB	0.1wt%（1000ppm）	難燃剤

RoHS指令　　追加予定物質

追加予定物質	略称等	最大許容濃度	主な用途
ヘキサブロモシクロドデカン	HBCCD	未定	臭素系難燃剤
フタル酸ジエチルヘキシル	DEHP	未定	軟質塩化ビニル（塩ビ，塩化ビニール）の可塑剤，ポリ塩化ビニル合成樹脂の可塑剤
フタル酸ブチルベンジル	BBP	未定	ポリサルファイド系シーリング材
フタル酸ジブチル	DBP	未定	プラスチック樹脂やポリマー中の可塑剤，ラッカー、接着剤、塗料、印刷インク用の可塑剤

評価実績例

ICパッケージ: モールド樹脂材料
捺印インク: プリント基板
ガラスエポキシ基盤: 線材ビニール被覆
ステンレス: 包装・梱包材料
プラスチック成型品: クロムめっきねじ
樹脂ペレット: 銀ペースト
塗料: インク
アルミ合金

分析方法

各規制物質の精密分析方法

分析試料		分析方法
カドミウム・鉛・全クロム・水銀		マイクロウェーブ分解装置による高温高圧分解法で前処理高周波アルゴンプラズマ発光分光度計（ICP-AES）・高周波アルゴンプラズマ質量分析計（ICP-MS）にて、定量分析
六価クロム		試料を温水中に浸漬し超音波抽出を行う前処理方法、またはご指定の前処理方法分光光度計（UV-VIS）を使用したジフェニルカルバジド吸光光度法で定量分析
臭素系難燃剤		有機溶媒抽出を行う前処理方法ガスクロマトグラフ質量分析装置で分析
簡易分析		蛍光X線による簡易分析鉛・カドミウム・クロム・水銀・臭素の5成分を分析ただし、六価クロムはクロムとして、臭素系難燃剤は臭素として評価

RoHS指令　各物質の精密分析方法　フロー図

RoHSの分析フロー

材料・製品等に含まれる特定有害物質マッピング分析のご案内

主な特徴

基板など多くの部品がアセンブリされた製品のRoHS指令における有害物質分析は、当初の解釈として「はんだ付けされた部品は均質物質として扱って良い」とのことでしたが、基板一枚を粉砕等で均一な状態することが困難なことと有害物質が閾値を超過した場合、部品ごとにその有害物質含有量を測定するのが一般的です。　蛍光X線による元素マッピング分析によって、基板全体の構成元素の分布状況を画像データとして得ることができます。これにより、部品個別に確認した製品のロット管理や抜き打ち検査などが可能です。また、任意の場所をポイント分析をおこなうことで閾値を満足することができます。

蛍光X線マッピング分析装置とマッピング画像