ICカード・RFID評価試験
接触型ICカードのJIS X 6305-1、ISO7816-1等の規格に準拠した各種試験、さらに実際の使用環境に応じた各種評価試験を実施いたします。また、非接触方型ICカード、RFID（ICタグ，ICラベル）対応の各種試験、信頼性/耐久性試験方法等のご提案、お客様のご希望に沿ったカスタム試験装置の設計・製造についても対応しております。
非接触型ICカード、RFID評価試験方法
接触型ICカードは、外部回路と接触させるため、ICモジュールを電極で被う構造になっていますが、非接触型ICカードでは、ICモジュールがそのままの状態で実装されています。また、接触型ICカードの評価試験は、ISOやJISに定められた規格に準拠した試験方法で実施しますが、非接触方型ICカードでは、未だ標準的な試験方法がありません。このような状況に対応するため、当社では、非接触型ICカード、RFIDに関する各種信頼性試験、各種環境試験、さらに、機械的な応力が加わった場合の動的曲げ試験、動的ねじれ試験等、お客様のご希望に沿った試験をご提案、ご提供いたします。
ICカードのねじり試験
外部磁界試験
JIS X 6305等規格に準拠した各種の試験を実施、動的試験にも対応
2006年度導入のIC旅券（パスポート）の評価項目をすべて実施可能です。またICチップを再組立して故障部位の特定が可能です。
| 接触型ICカード/ICシート等評価試験 | |
|---|---|
| JIS X 6305-1-2003 JIS X 6322-1-2001 ISO7816-1 |
対紫外線試験、耐X線試験、耐交流電界試験 耐交流磁界試験、耐静磁界試験 |
| JIS D 0205 | 耐サンシャイン試験 |
| ISO3768 | 塩水噴霧試験 |
| JIS X 6301-1998 JIS X 6305-1-2003 |
耐化化学薬品試験 浸漬（水）試験 |
| MIL STD 202F 方法103B JIS X6305-1-2003 |
高温高湿放置 |
| MIL STD 202F 方法102A JIS C0020-1988 |
温度サイクル試験 |
| JIS D0204 JIS C0020-1995 JIS C0119-1999 JIS C0021-1995 |
高温放置、低温放置、 高温保存試験、低温保存試験 |
| JIS C 0028 JIS C0020-1995 |
温湿度サイクル試験 温度サイクル試験 |
| JIS C0040-1999 ISO 10373 |
耐振動試験 |
| MIL STD 202F 方法213B | 衝撃試験 |
| JIS X 6305/6.1 | 動的曲げ強さ |
| JIS X 6305/6.2 | 動的ねじれ特性 |
| JIS X 6301/8.11 | 反り |
| JIS X 6305-6、7 | 耐静電気試験 |
| 構造解析 | 外観構想＆断面観察 |
【お問い合わせ先】
- 信頼性技術事業部
- 電話：03-5920-2354 ファックス：03-5920-2306
