ICカード・RFID評価試験

接触型ICカードのJIS X 6305-1、ISO7816-1等の規格に準拠した各種試験、さらに実際の使用環境に応じた各種評価試験を実施いたします。また、非接触方型ICカード、RFID（ICタグ，ICラベル）対応の各種試験、信頼性／耐久性試験方法等のご提案、お客様のご希望に沿ったカスタム試験装置の設計・製造についても対応しております。

非接触型ICカード、RFID評価試験方法

接触型ICカードは、外部回路と接触させるため、ICモジュールを電極で被う構造になっていますが、非接触型ICカードでは、ICモジュールがそのままの状態で実装されています。また、接触型ICカードの評価試験は、ISOやJISに定められた規格に準拠した試験方法で実施しますが、非接触方型ICカードでは、未だ標準的な試験方法がありません。このような状況に対応するため、当社では、非接触型ICカード、RFIDに関する各種信頼性試験、各種環境試験、さらに、機械的な応力が加わった場合の動的曲げ試験、動的ねじれ試験（ねじり試験）等、お客様のご希望に沿った試験をご提案、ご提供いたします。

ICカードのねじり試験

外務磁界試験機

JIS X 6305等規格に準拠した各種の試験を実施、動的試験にも対応

2006年度導入のIC旅券（パスポート）の評価項目をすべて実施可能です。またICチップを再組立して故障部位の特定が可能です。

接触型ICカード／ICシート等評価試験
JIS X 6305-1-2003 JIS X 6322-1-2001 ISO7816-1	耐紫外線試験、耐X線試験、耐交流電界試験、耐交流磁界試験、耐静磁界試験
JIS D 0205	耐サンシャイン試験
ISO3768	塩水噴霧試験
JIS X 6301-1998 JIS X 6305-1-2003	耐化化学薬品試験浸漬（水）試験
MIL STD 202F 方法103B JIS X6305-1-2003	高温高湿放置
MIL STD 202F 方法102A JIS C0020-1988	温度サイクル試験
JIS D 0204 JIS C 0020-1995 JIS C 0119-1999 JIS C 0021-1995	高温放置、低温放置、高温保存試験、低温保存試験
JIS C 0028 JIS C 0020-1995	温湿度サイクル試験温度サイクル試験
JIS C 0040-1999 ISO 10373	耐振動試験
MIL STD 202F　方法213B	衝撃試験
JIS X 6305/6.1	動的曲げ強さ
JIS X 6305/6.2	動的ねじれ特性
JIS X 6301/8.11	反り
JIS X 6305-6、7	耐静電気試験参考資料：ICカードのEMC試験（近接型）（PDFファイル 199KB）
構造解析	外観構想&断面観察

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電話：03-5920-2366

信頼性評価試験、環境試験