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低分子シロキサン分析

シロキサンとは(-Si-O-Si-)nを分子骨格に持つ、けい酸有機化合物の総称で、主として直鎖構造を持つものと環状構造を持つものに分けられ、シリコーン(けい素を示すシリコンではなくシリコーン)とも言われます。その分子骨格の中にO-Si-Oの構造の数がいくつあるかで何量体かがきまり、量体の数字が大きくなると沸点が高く、逆に量体の数字が小さいと沸点が低くなります。環境中で影響をおよぼすとされる量体は3量体~9量体程度といわれており、常温・常圧で気化し、雰囲気中を浮遊する可能性があります。昨今ではこれら低分子のシロキサンの発生(生成)を抑えたシリコーン樹脂も販売されています。当社ではシロキサンに関わる事象について、お客様のニーズに基づきご提案いたします。

  • 電子部品材料から発生する低分子シロキサン分析(※1)
  • 環境雰囲気中の低分子シロキサン分析(※1)
  • シロキサン暴露試験および試験槽内部のシロキサン濃度測定(※1)

低分子シロキサン接点障害とは

電子部品に対してシロキサンが不具合を誘発する例としてはリレーの接点不良が多く、密閉された部品の中に低分子シロキサンを発生させるシリコーンを使用していると、部品の動作熱により、シロキサンが発生し、リレー接点上に付着します。特にON/OFF回数の多いリレー接点は常時接点上に衝撃を与え、接点上に付着したシロキサンを酸化分解させ、SiO2となり電気絶縁物として作用し接点障害を引き起こすというものです。

低分子シロキサン測定事例

シロキサン接点障害分析
シロキサンガスの雰囲気中で接点のON/OFFを繰り返すと、接点上に二酸化ケイ素(SiO2)が堆積し、電気絶縁物として作用し接点障害を引き起こすことを確認しました。
車載部品から発生するシロキサンガスの原因部品特定
製品内でシロキサンに起因する接点障害が起きたときに、どの部品から多量にシロキサンガスが発生しているか、部品ごとに測定し、部品を特定しました。
シリコーン接着剤の低分子シロキサン発生量測定
低分子シロキサン対策済みのシリコーン接着剤の低分子シロキサン発生量を測定し、対策が良好であることを確認しました。
シロキサンガスの暴露試験
接点をもつ車載部品のシロキサン暴露試験を行い、試験槽内のシロキサン濃度を測定しました。

シロキサンガスの暴露試験

OKIエンジニアリングでは、暴露試験槽内を一定のシロキサン濃度に保つ試験環境を構築し、1~50ppm程度までの濃度を長時間に亘り保持することが可能です。 使用環境下における接点障害の再現試験やシロキサン接点障害対策品の効果を評価いたします。

シロキサンによる接点障害再現試験サービス

シロキサンガスの暴露試験槽
試験槽内に評価対象を入れ、一定のシロキサン濃度に保ちます。槽内は全体が均一な濃度に保つようにし、定期的に濃度測定を行います。
シーケンサー
評価対象を動作させるための機器です。通電のオンオフなどを行います。
データロガー
評価対象の動作状況を監視します。接点障害発生の有無などの変化を連続的に記録します。

【お問い合わせ先】

  • 環境事業部
    • 電話:03-5920-2356 ファックス:03-5920-2306

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