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デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

AEC-Q101/200試験自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q101/200」に対応

AEC-Q101/200は、車載向けの個別半導体や受動部品のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用電子部品向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。加速寿命試験や環境ストレス試験で必要な試験用ボード製作も対応いたします。また、カーブトレーサやリニアテスタ、その他測定機器を所有しており、試験前後の電気的特性測定も対応いたします。

AEC-Q自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験内容

AEC-Q101 トランジスタなど個別半導体の信頼性試験

参照規格 記号 試験項目内容
ユーザースペック TEST ストレス試験前後の電気的特性取得
JESD22 A-113 PC 前処理
SMD部品 Test#7,8,9,10のみ
JESD22 B-101 EV 外観検査
ユーザースペック PV パラメータ検証
MIL-STD-750-1
M1038 MethodA
HTRB 高温逆バイアス試験
MIL-STD-750-1
M1040
TestConditionA
ACBV ACブロッキング電圧
JESD22 A-108 HTFB 高温順バイアス試験
MIL-STD-750-1
M1038
ConditionB
SSOP 定常動作試験
JESD22 A-108 HTGB 高温ゲートバイアス試験
JESD22 A-104
Appendix 6
TC 温度サイクル試験
JESD22 A-104
Appendix 6
TCHT 温度サイクル試験後の高温テスト
JESD22 A-104
Appendix 6
J-STD-035
TCDT 温度サイクル試験後の内部剥離検査
MIL-STD-750
Method 2037
WBI 高温バイアス試験500時間後のワイヤボンド強度
JESD22 A-118 UHAST バイアスなし、高温高湿試験
JESD22 A-102 AC オートクレーブ
JESD22 A-110 HAST バイアス印加 高温高湿試験
JESD22 A-101 H3TRB 高温高湿 逆バイアス試験
JESD22 A-101 HTHHB 高温高湿 順バイアス試験
MIL-STD-750
Method 1037
IOL ON/OFF動作寿命
JESD22 A-105 PTC パワー温度サイクル試験
AECQ101-001
AECQ101-005
ESD 静電破壊試験 HBM、CDM
AEC-Q101-004
Section4
DPA 破壊的物理解析
JESD22 B-100 PD 寸法測定
MIL-STD-750
Method 2036
TS リード強度
JESD22 B-107 RTS 耐溶剤性試験
MIL-STD-750
Method 2006
CA 定加速度試験
JESD22 B-103 VVF 振動試験
JESD22 B-104 MS 衝撃試験
JESD22 A-109 HER 封止試験
JESD22
A-111(SMD)
B-106(PTH)
RSH 半田耐熱性試験
J-STD-002
JESD22B102
SD はんだ濡れ性試験
JESD24-3,24-4,24-6 as appropriate TR 熱抵抗測定
MIL-STD-750 Method 2037 WBS ワイヤボンド強度
AEC-Q101-003 BS ワイヤボンドシェア強度
MIL-STD-750 Method 2017 DS ダイシェア強度
AEC-Q101-004 Section2 UIS プロセス変更時に実施
AEC-Q101-004 Section3 DI プロセス変更時に実施
AEC-Q101-006 SCR 短絡回路評価
AEC-Q005 LF 鉛フリー評価

AEC-Q200 タンタルおよびセラミックコンデンサの試験項目

AEC-Q200は、対象が、コンデンサ、抵抗、バリスタ、水晶振動子など多岐に渡り、試験項目が部品毎決められております。さらにコンデンサなどは品種により対象項目が分けられております。代表としてタンタル及びセラミックコンデンサの試験項目を掲載いたします。

参照規格 記号 試験項目内容
ユーザースペック TEST ストレス試験前後の電気的特性取得
MIL-STD-202
Method 108
HTS 高温放置
JESD22 JA-104 TC 温度サイクル試験
EIA-469 DPA 破壊的物理解析
MIL-STD-202
Method 103
BH 高温高湿バイアス試験
MIL-STD-202
Method 108
OL 高温寿命試験
MIL-STD-883
Method 2009
EV 外観検査
JESD22 JB-100 PD 寸法測定
MIL-STD-202
Method 211
TS リード強度
MIL-STD-202
Method 215
RTS 耐溶剤性試験
MIL-STD-202
Method 213
MS 衝撃試験
MIL-STD-202
Method 204
VB 振動試験
MIL-STD-202
Method 210
RSH 半田耐熱性試験
AEC-Q200-002 または ISO/DIS10605 ESD 静電破壊試験
J-STD-002 SD はんだ濡れ性試験
ユーザースペック EC 電気的特性
AEC-Q200-005 BF ボード曲げ耐性
AEC-Q200-006 TS リード強度
AEC-Q200-003 BLT 破壊強度
  • 条件により対応できない場合がございますのでご相談ください。
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電話:03-5920-2366

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