AEC-Q101/200試験: 自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q101/200」に対応
AEC-Q101/200は、車載向けの個別半導体や受動部品のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用電子部品向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。加速寿命試験や環境ストレス試験で必要な試験用ボード製作も対応いたします。また、カーブトレーサやリニアテスタ、その他測定機器を所有しており、試験前後の電気的特性測定も対応いたします。
参照規格 | 記号 | 試験項目内容 |
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ユーザースペック | TEST | ストレス試験前後の電気的特性取得 |
JESD22 A-113 | PC | 前処理 SMD部品 Test#7,8,9,10のみ |
JESD22 B-101 | EV | 外観検査 |
ユーザースペック | PV | パラメータ検証 |
MIL-STD-750-1 M1038 MethodA |
HTRB | 高温逆バイアス試験 |
MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA |
ACBV | ACブロッキング電圧 |
JESD22 A-108 | HTFB | 高温順バイアス試験 |
MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB |
SSOP | 定常動作試験 |
JESD22 A-108 | HTGB | 高温ゲートバイアス試験 |
JESD22 A-104 Appendix 6 |
TC | 温度サイクル試験 |
JESD22 A-104 Appendix 6 |
TCHT | 温度サイクル試験後の高温テスト |
JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035 |
TCDT | 温度サイクル試験後の内部剥離検査 |
MIL-STD-750 Method 2037 |
WBI | 高温バイアス試験500時間後のワイヤボンド強度 |
JESD22 A-118 | UHAST | バイアスなし、高温高湿試験 |
JESD22 A-102 | AC | オートクレーブ |
JESD22 A-110 | HAST | バイアス印加 高温高湿試験 |
JESD22 A-101 | H3TRB | 高温高湿 逆バイアス試験 |
JESD22 A-101 | HTHHB | 高温高湿 順バイアス試験 |
MIL-STD-750 Method 1037 |
IOL | ON/OFF動作寿命 |
JESD22 A-105 | PTC | パワー温度サイクル試験 |
AECQ101-001 AECQ101-005 |
ESD | 静電破壊試験 HBM、CDM |
AEC-Q101-004 Section4 |
DPA | 破壊的物理解析 |
JESD22 B-100 | PD | 寸法測定 |
MIL-STD-750 Method 2036 |
TS | リード強度 |
JESD22 B-107 | RTS | 耐溶剤性試験 |
MIL-STD-750 Method 2006 |
CA | 定加速度試験 |
JESD22 B-103 | VVF | 振動試験 |
JESD22 B-104 | MS | 衝撃試験 |
JESD22 A-109 | HER | 封止試験 |
JESD22 A-111(SMD) B-106(PTH) |
RSH | 半田耐熱性試験 |
J-STD-002 JESD22B102 |
SD | はんだ濡れ性試験 |
JESD24-3,24-4,24-6 as appropriate | TR | 熱抵抗測定 |
MIL-STD-750 Method 2037 | WBS | ワイヤボンド強度 |
AEC-Q101-003 | BS | ワイヤボンドシェア強度 |
MIL-STD-750 Method 2017 | DS | ダイシェア強度 |
AEC-Q101-004 Section2 | UIS | プロセス変更時に実施 |
AEC-Q101-004 Section3 | DI | プロセス変更時に実施 |
AEC-Q101-006 | SCR | 短絡回路評価 |
AEC-Q005 | LF | 鉛フリー評価 |
AEC-Q200は、対象が、コンデンサ、抵抗、バリスタ、水晶振動子など多岐に渡り、試験項目が部品毎決められております。さらにコンデンサなどは品種により対象項目が分けられております。代表としてタンタル及びセラミックコンデンサの試験項目を掲載いたします。
参照規格 | 記号 | 試験項目内容 |
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ユーザースペック | TEST | ストレス試験前後の電気的特性取得 |
MIL-STD-202 Method 108 |
HTS | 高温放置 |
JESD22 JA-104 | TC | 温度サイクル試験 |
EIA-469 | DPA | 破壊的物理解析 |
MIL-STD-202 Method 103 |
BH | 高温高湿バイアス試験 |
MIL-STD-202 Method 108 |
OL | 高温寿命試験 |
MIL-STD-883 Method 2009 |
EV | 外観検査 |
JESD22 JB-100 | PD | 寸法測定 |
MIL-STD-202 Method 211 |
TS | リード強度 |
MIL-STD-202 Method 215 |
RTS | 耐溶剤性試験 |
MIL-STD-202 Method 213 |
MS | 衝撃試験 |
MIL-STD-202 Method 204 |
VB | 振動試験 |
MIL-STD-202 Method 210 |
RSH | 半田耐熱性試験 |
AEC-Q200-002 または ISO/DIS10605 | ESD | 静電破壊試験 |
J-STD-002 | SD | はんだ濡れ性試験 |
ユーザースペック | EC | 電気的特性 |
AEC-Q200-005 | BF | ボード曲げ耐性 |
AEC-Q200-006 | TS | リード強度 |
AEC-Q200-003 | BLT | 破壊強度 |
MIL-STD-202 Method 101 Condition B |
SS | 塩水噴霧試験 |
UL-94 V-0 or V1 | FL | 燃焼性試験 |