- Home
- 受託試験サービス
- デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
- 信頼性評価
- パワー温度サイクル試験
デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
パワー温度サイクル試験： 自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応
パワー温度サイクル試験自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応
AEC-Q100は、オートモーティブ集積回路（IC）のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用半導体向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。
パワー温度サイクル試験
パワー温度サイクル試験概要図
パワー温度サイクル試験は、デバイスを周期的に動作させながら、想定される最悪温度環境に対する耐性確認する為に実施されます。
パワー温度サイクル試験を実施する為には、急峻な温度変化のなかで、デバイスの電源制御を行う必要があります。
OKIエンジニアリングは、デバイスの動作治具設計開発、試験実施までワンストップで対応可能です。
パワー温度サイクル試験基本構成
- デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
- WEBからのお問い合わせ：お問い合わせフォームはこちら
電話：03-5920-2366
