よくあるご質問（FAQ）

デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価に関して、よく寄せられるご質問への回答一覧を掲載しています。

AEC規格とは何ですか？

AEC規格は、車載用電子部品における信頼性試験の世界基準規格で、欧米で広く採用されています。当社では、AEC-Q100、101、200に準拠した信頼性試験を提供しています。

規格の対象品種

AEC-Q100

集積回路（IC）

AEC-Q101

ディスクリート半導体部品

AEC-Q200

受動部品

• AEC-Q100試験　詳細はこちら
• AEC-Q101／200試験　詳細はこちら

eMMCとは何ですか？

eMMC（embedded Multi Media Card）はフラッシュメモリ（不揮発性メモリ）を用いた、組み込み機器向けの外部記憶装置です。書き換え可能で、電源を供給しなくても記憶を保持するため、データの保存や転送が必要な車載機器、産業機器、通信機器などで使用されています。
当社は、連続書き込みやデータ保持などの耐久性試験だけでなく、不揮発性メモリの性能規格「SNIA SSS PTS」に準拠した評価技術を確立し、IOPSやLatencyなどの性能評価を実施しています。

• eMMC信頼性評価　詳細はこちら

スクリーニング試験とは何ですか？

スクリーニング試験は、初期故障を低減させる目的で、市場に出る前に電子部品に一定のストレスを加えることにより潜在欠陥を除去する試験です。MIL規格やその他ご要望の規格・標準に準拠したスクリーニングを提供します。

• スクリーニング試験　詳細はこちら

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