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電気的特性測定・評価

デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

宇宙・防衛・自動車分野などで高い信頼性が要求される半導体部品やモジュールに関わる経験豊富な評価実績をもとに、信頼性試験の他、電気的特性測定、スクリーニング試験、LSIテストサービスをワンストップで提供します。

信頼性評価

開発や部品選定などで必要とされる信頼性評価サービスをご提供します。

特長

  • MIL、JEDEC、JEITA、AEC-Q等の規格に準拠した信頼性試験サービス
  • 次世代パワー半導体の総合評価サービス
  • パワー半導体の劣化進行状況を非破壊かつ早期に検出できるパワーサイクル試験サービス
  • 電源モジュールの信頼性評価サービス
  • WLR(Wafer Level Reliability)評価サービス

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電気的特性測定・評価

電気的特性測定・評価は電子部品の性能を決める特性を評価する方法として最も基本的であり、非破壊で特性を把握できる重要な測定・評価方法です。

特長

  • LSIからパワー半導体まで広範囲の半導体部品に対応
  • ベアチップに対応
  • 半導体部品の他、プローブピン(ポゴピン)等の電子部品に対応

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スクリーニング

宇宙・防衛分野での豊富な実績をもとにMIL規格に準拠したスクリーニングを受託実施します。また、急増している電子部品の市場流通品に対するスクリーニング(模倣品対策)サービスを提供します。

特長

  • MIL規格に準拠したスクリーニングの実施
  • 電子部品の市場流通品に対するスクリーニング(模倣品対策)の実施
  • ダイナミックバーンイン試験の実施

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LSIテスト

テストプログラム作成、テストベクター作成・変換ならびに測定用ボード設計製作の他、小規模量産テスト(テストハウス)などのLSIテストサービスを提供します。

特長

  • 小規模量産テストサービス
  • 開発品の評価から量産テスト時の立ち上げ支援に対応
  • テストパターンが入手できない汎用デバイスのテストサービス
  • ウェハテストに対応

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主要設備

デバイスの信頼性評価、電気的特性測定・評価で使用する主な設備です。お客様にご満足いただけるソリューションをお届けするために常時最適な保守点検を行っております。

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電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2366