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OKIエンジニアリングが所有している主な設備・装置です。お客様にご満足いただけるソリューションをお届けするために常時最適な保守点検を行っております。
OKIエンジニアリングの設備・装置
分類
設備・装置
環境試験装置
恒温恒湿槽、恒温恒湿室、恒温槽
熱衝撃試験槽(気相)
熱衝撃試験槽(液相)
高加速寿命試験装置(プレッシャークッカ)
複合環境試験装置(バイブロチャンバ)
遠心加速度試験装置
温度高度試験槽
塵埃試験機
ガス腐食試験機
塩水サイクル試験機
オゾン試験機
耐水試験機
散水試験機(IPX4K試験機)
耐候性試験(サンシャイン、キセノン)
塩水噴霧試験・塩水複合サイクル試験・キャス試験
IP試験装置
ダイナミックバーンイン装置
窒素パージ高温試験機
ICテスタ
ロジックICテスタ(ウェハプローバ付)
リニアICテスタ
半導体素子測定器
個別半導体(リニア)テスタ
プログラマブル・カーブトレーサ
半導体デバイス・アナライザ
その他電機的特性測定器
デジタルストレージオシロ
ロジックアナライザ
LFインピーダンスアナライザ
高抵抗測定システム
接触抵抗測定システム
光通信測定器
光ロス・アナライザ
光パワーメータ
機械的性能試験装置
振動試験機(ランダム)
複合環境振動試験
衝撃試験機・落下試験機
引張試験機
ダイシェア試験装置
ワイヤボンドプルテスタ
EMC関連
10m法電波暗室
小型電波暗室
IEC61000関連評価装置
その他試験設備
FI-CDM試験機
静電耐量試験装置(各種方式に対応)
ノイズシミュレータ
はんだぬれ性試験装置
赤外線リフロー装置
全光束測定システム
配光測定システム
観察・分析装置
フーリエ変換赤外分光光度計
イオンクロマトグラフ
誘導結合プラズマ発光分光分析装置 プラズマ質量分析装置
液体クロマトグラフ質量分析装置
ICP質量分析装置
GC-MS分析装置
IA/MS イオン付着質量分析装置
赤外分光装置+赤外顕微鏡
熱機械分析装置
熱重量測定装置
示差走査熱量測定装置
原子吸光分光光度計
蛍光X線マッピング分析装置
電子線マイクロアナライザ
透過形電子顕微鏡(EDX付)
走査形電子顕微鏡
マイクロフォーカスX線CT装置
超音波探査映像装置
ホットエレクトロン解析装置
光学顕微鏡
メジャースコープ
デジタルマイクロスコープ
気密封止パッケージ(PKG)内水分・残留ガス分析装置
ロックイン赤外線発熱解析装置
赤外線サーモグラフィカメラ
試料加工装置
IC開封器(プラスチックモールドオープナー)
反応性イオンエッチング装置
イオンミリング装置
収束イオンビーム装置
平面研磨装置
レーザーパッケージ開封装置
受託試験サービス
信頼性評価試験、環境試験
解析(故障/良品)・観察・分析
デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
ESD試験・TLP測定
EMC試験
化学分析(RoHS・REACH・環境)
環境システム技術
電子部品の技術・環境情報調査代行
計測器校正
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