ネプコンジャパン構成展のエレクトロテストジャパンには、外観・X線検査装置、テスター、環境試験・信頼性試験装置、各種分析装置などあらゆる検査・試験装置の主要メーカーが一堂に、約1,800社が出展します。最新の技術情報収集のためにもぜひ、OKIエンジニアリングブースにご来場ください。

本セミナーでは、電子機器品質向上のための信頼性試験の【評価・解析編】として、『半導体・電子部品のスクリーニング』、『特性選別と真贋判定、製品事故を繰り返さないための故障解析』、『はんだ接合部の寿命予測と電子部品のSnめっきのウィスカ評価』をテーマに講演します。信頼性試験・解析のニーズ高まりから、本セミナーはご好評をいただいております。産業工作機器、電子部品・半導体、自動車・車載、医療機器等の研究・開発・設計・製造に携わる方々のご参加を心よりお待ちしております。

本セミナーでは、電子機器品質向上のための信頼性試験の【材料・化学編】として、『安全性を確保するためのリチウムイオン電池の解析』、『材料評価における劣化腐食促進試験と事例紹介』、『樹脂材料の劣化度合および劣化原因解析』をテーマに講演します。信頼性試験・解析のニーズ高まりから、本セミナーはご好評をいただいております。産業工作機器、電子部品・半導体、自動車・車載、医療機器等の研究・開発・設計・製造に携わる方々のご参加を心よりお待ちしております。