デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
主要設備
OKIエンジニアリングが所有している主な設備です。お客様に御満足いただけるソリューションをお届けするために常時最適な保守点検を行っております。
SoCテスター
512CH、1TH
SoCテスター アドバンテスト T6575
- 型式
- T6575（アドバンテスト製）
- DATA RATE
- max 500MHz
- TTB
- 64MW×3bit/pin VGC：4MW
- DPS
- 8V-2A 16CH、40V-80mA 8CH
- TG
- 6TE/pin
- オプション
- ALPG、IDDQ、A/D、D/A
ウエハ・プローバ
- 型式
- Precio XL（東京エレクトロン製）
- 対応
- 12、8インチ（6インチ可能、ダイのみも可能）
- 温度範囲
- -40℃～125℃（ステージ温度）
ロジックテスター 1
256CH、1TH
EVA100
- 型式
- EVA100（アドバンテスト製）
- CLOCK RATE
- max 100MHz
- メモリバッファ
- 128MW×3bit/pin、4KWsubroutine
- DPS
- 16CH max7V/500mA
- オプション
- ADC
ロジックテスター 2
256CH、1TH （HV2）
- 型式
- T3347A（アドバンテスト製）
- CLOCK RATE
- max 40MHz
- STEVバッファ
- 2MW×3bit/pin（VGCS64KW）
- DPS
- 8V-5A 2CH、8V-2A 2CH、8V-1A/30V-500mA 8CH
（8Vの計8CHのユニットのオプション） - TG
- 48TE、16STROBE
- オプション
- ALPG ADC
PIND試験装置
PIND試験装置
- 名称
- PIND試験装置（B&W製）
- 仕様
- 振動：周波数・加速度 サイン波27～265Hz・0～20Gピーク
衝撃：作用時間・加速度 サイン波100μsec以下・0～2000G調整
最大搭載重量：200グラム（20G ピーク時）
検出器：感度-77.5±3dB
MIL-STD-883 MIL-STD-750 MIL-STD-220に適合
窒素（N2）パージオーブン（イナートオーブン）
窒素（N2）パージオーブン
（酸素濃度3%の表示例）
- 型式
- IPH-202（エスペック製）
- 仕様
- 窒素生成システムにより供給（窒素濃度99%）
試験時流量15リットル／min
酸素濃度指示調節装置付 - 温度
- max 200℃
- 槽内法
- W600xH600xD600[mm]
パワーデバイスアナライザー・カーブトレーサー
B1505A＋N1265A
パワーデバイスアナライザー
カーブトレーサー
- 型式
- B1505A＋N1265A（キーサイト製）
- 構成
-
- Ultra High Current Unit (N1265A: 500A対応）
- High Voltage SMU（B1513B： 3000V対応）
- Multi Freq CMU（B1520A：3000V Biased CV）測定
- 機能
-
- Windows 7 OSを搭載したPCベースの測定機（MS Office搭載）
- 最大電流500A（パルス幅：2us～500us）
- 最大電圧3000V（4mA max）
- パワーデバイス（FET、IGBT、ダイオード）単体、モジュール品の電気的特性測定
- スウィープ測定によるカーブトレース画像取得
- VDS印加時（3000V max）の寄生容量（Ciss、Coss、Crss）測定
- 低温～高温槽との組合せによる電気的特性の温度依存性
半導体デバイス・アナライザ
B1500A 半導体デバイス・アナライザ
- 型式
- B1500A（キーサイト製）
- 構成
-
- ハイパワー（HP）SMU
- 高分解能（HR）SMU
- 容量測定ユニット CMU 1台
- 機能
-
- Windows XP Professional OSを搭載したPCベースの測定器
- 電流電圧 （IV） ユニット、キャパシタンス電圧 （CV） 測定器ユニット、パルス発生器ユニットが1台で電流電圧 （IV）、準静的／中周波数キャパシタンス－電圧 （CV） 測定をサポート
- Desktop EasyEXPERTソフトウェアによるオフラインでのデータ解析およびアプリケーション・テスト開発
- 信号源モニタ・ユニット （SMU） および他のモジュール・タイプ用の10個モジュール・スロット
リニアICテスター
- 型式
- WTS-700／WTS-750（ウインテスト製）
- Analog Pin Measure Unit概要
-
- 12pin/Board×2
- 各ピン毎に独立してVFIM／IFVM／VMの測定が可能
- 各ピン毎に14bitのメーター／12ピン毎に16bitメーター
- デルタ機能⇒APMUのピンにデルタDACの出力を加えることが可能
- Medium Power Pin Unit概要
-
- APMUよりも高電圧／高電流／高精度での測定可能
- 2ch搭載
- VFIM／IFVM／VM
- DC測定モード他パスル測定モード搭載
- フローティング電源に対応可能
- レンジの異なる2種類のタイプが存在
個別半導体（リニア）テスター
- 型式
- MST2000（MSD製）
- 用途
- DCパラメータ測定
- 電圧電源
- 50Vmax
- バイアス電流分解能
- 0.025pA
- 対象デバイス
- オペアンプ，A/Dコンバータ，コンパレータ
レギュレータ，アナログスイッチ，デジタルIC
- 電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
- WEBからのお問い合わせ：お問い合わせフォームはこちら
電話：03-5920-2366
