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デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
スクリーニング試験
OKIエンジニアリングでは40年の実績、豊富な経験に基づく技術、IECQ独立試験所認定による公正かつ中立的なデータの提供、厳重な機密保持を実施しており、汎用デバイスに対し、MIL規格やその他ご要望の規格・標準に準拠したスクリーニングをご提供いたします。スクリーニングを行うデバイス、数量、条件、個数の情報をご提示いただければ、最適な費用／納期をご提案いたします。
- 電子部品のスクリーニングとは
- 電子部品の初期故障を低減させる目的で、市場に出る前に部品に一定のストレスを加えることにより潜在欠陥を除去する試験。また、故障摘出品に対しては故障解析を実施し、フォードバックをかける。
スクリーニングサービス一覧
JAXA-QTS-2010C 付則B スクリーニング試験項目例
| 試験項目 | 安定化ベーク（MIL-STD-883 METHOD 1008） |
|---|---|
| 温度サイクル試験（MIL-STD-883 METHOD 1010） | |
| 目視検査 | |
| 粒子衝突雑音検出試験（MIL-STD-883 METHOD 2020） | |
| 放射線写真検査（MIL-STD-883 METHOD 2012） | |
| バーンイン前 電気的パラメータ試験 | |
| バーンイン試験 | |
| 中間点（バーンイン後）電気的パラメータ試験 | |
| 逆バイアスバーンイン試験 | |
| 中間点（逆バイアスバーンイン後）電気的パラメータ試験 | |
| 気密性試験（MIL-STD-883 METHOD 1014） | |
| 最終電気的パラメータ試験 | |
| 外部目視検査（MIL-STD-883 METHOD 2009） |
スクリーニング対応可能電子部品
| ロジック系IC | CPU・各種ドライバ・FPGA等 |
|---|---|
| リニア系IC | オペアンプ・コンパレータ・A／Dコンバータ・D／Aコンバータ等 |
| メモリ系IC | SRAM・DRAM・PROM・EEPROM等 |
| 個別部品 | ダイオード・トランジスタ・サイリスタ・受動部品（抵抗・コンデンサ・コイル）等 |
スクリーニング実績例
| スクリーニング実績デバイス例 | メーカー | 型名 |
|---|---|---|
| ロジック系IC | フリースケール | MC68020 |
| ザイログ | Z16C30 | |
| テキサス | TMS320VC33 | |
| 日立 | HD63450 | |
| バーブラウン | ADS7825 | |
| リニア系IC | MICROSEMI | SMCJ30A MS1004 |
| LINEAR TECHNOLOGY | LT1461 LT6234CS8 |
|
| NEC | 2SK1592 | |
| メモリ系IC | 日立 | HM6216255HJP-12 HN58C1001T |
| STマイクロ |
M27C256B 24C系，93C系MICROWIREシリアルEEPROM |
上記以外にも多様な品種のお取り扱いが可能です。ぜひ一度ご相談ください。
※スクリーニング項目につきましては、別途ご相談により決定させていただきます。
使用機器
| WTS-700／WTS-750（ウインテスト製） | リニアICテスタ（アナログダイナミックテスト） |
|---|---|
| T3347A（アドバンテスト製） | VLSIテストシステム |
| T6575（アドバンテスト製） | SoCテストシステム |
| MST-2000（MSD製） | VLSIテストシステム |
- デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
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電話：03-5920-2366
