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デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

スクリーニング

OKIエンジニアリングでは40年の実績、豊富な経験に基づく技術、IECQ独立試験所認定による公正かつ中立的なデータの提供、厳重な機密保持を実施しており、汎用デバイスに対し、MIL規格やその他ご要望の規格・標準に準拠したスクリーニングをご提供いたします。スクリーニングを行うデバイス、数量、条件、個数の情報をご提示いただければ、最適な費用/納期をご提案いたします。

スクリーニングサービス一覧

JAXA-QTS-2010C 付則B スクリーニング試験項目例

試験項目安定化ベーク(MIL-STD-883 METHOD 1008)
温度サイクル試験(MIL-STD-883 METHOD 1010)
目視検査
粒子衝突雑音検出試験(MIL-STD-883 METHOD 2020)
放射線写真検査(MIL-STD-883 METHOD 2012)
バーンイン前 電気的パラメータ試験
バーンイン試験
中間点(バーンイン後)電気的パラメータ試験
逆バアイアスバーンイン試験
中間点(逆バイアスバーンイン後)電気的パラメータ試験
気密性試験(MIL-STD-883 METHOD 1014)
最終電気的パラメータ試験
外部目視検査(MIL-STD-883 METHOD 2009)

スクリーニング対応可能電子部品

ロジック系IC CPU・各種ドライバ・FPGA等
リニア系IC オペアンプ・コンパレータ・A/Dコンバータ・D/Aコンバータ等
メモリ系IC SRAM・DRAM・PROM・EEPROM等
個別部品 ダイオード・トランジスタ・サイリスタ・受動部品(抵抗・コンデンサ・コイル)等

スクリーニング実績例

スクリーニング実績デバイス例 メーカー 型名
ロジック系IC フリースケール MC68020
ザイログ Z16C30
テキサス TMS320VC33
日立 HD63450
バーブラウン ADS7825
リニア系IC MICROSEMI SMCJ30A
MS1004
LINEAR TECHNOLOGY LT1461
LT6234CS8
NEC 2SK1592
メモリ系IC 日立 HM6216255HJP-12
HN58C1001T
STマイクロ
M27C256B
24C系,93C系MICROWIREシリアルEEPROM

上記以外にも多様な品種のお取り扱いが可能です。ぜひ一度ご相談ください。
※スクリーニング項目につきましては、別途ご相談により決定させていただきます。

使用機器

WTS-700(ウィンテスト製) リニアICテスタ(アナログダイナミックテスト)
T3347A(アドバンテスト製) VLSIテストシステム
T6575(アドバンテスト製) SoCテストシステム
MST-2000(MSD製) VLSIテストシステム
デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2366

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