デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

FPGAのスクリーニング

宇宙航空分野、車載関連などにおいてFPGAの市場が広まっており、高信頼性を確保するためにバーンイン試験を含むスクリーニングが必要になっております。
OKIエンジニアリングでは、独自に開発したバーンインシステムにより、MIL規格に対応した宇宙用FPGAや、車載分野などのFPGAにおいて高信頼性の確保のため、ご要求に応じてスクリーニングを実施します。FPGAへのデータ書き込みから、LSIテスタによる電気的特性試験も含みワンストップで対応いたします。

  • ダイナミックバーンイン試験によるスクリーニング
  • FPGAへのデータ書き込みからLSIテスタによる電気的特性試験
  • ダイナミックバーンイン試験までワンストップにて対応

バーンインシステムの特徴

  • 長大なテストパターンの実行が可能(最大10Mステップ)
  • 最大256本の信号端子に対応
  • 平行して最大5種類の異なるデータ書込み品のパターンが可能

対応部品(Actel製)

対応部品(Actel製)

  • RTAX250
  • RTAX2000
  • RTSX32
  • RTSX72
  • ProASIC

スクリーニング手順

スクリーニング手順

使用装置

バーンインシステムの写真

電子デバイスのスクリーニングで小惑星探査機「はやぶさ」に貢献

「はやぶさ」功労者感謝状を受章

OKIエンジニアリングは、小惑星探査機「はやぶさ」の信頼性向上に電子デバイス(FPGA)のスクリーニングを通じて貢献しました。この貢献に対し、「はやぶさプロジェクトサポートチーム」の一社として、平成22年12月、海江田宇宙開発担当大臣、高木文部科学大臣より感謝状を受賞しました。

はやぶさと感謝状の写真

デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2366

お問い合わせ

お問い合わせ