FPGAのスクリーニング

宇宙航空分野、車載関連などにおいてFPGAの市場が広まっており、高信頼性を確保するためにバーンイン試験を含むスクリーニングが必要になっております。
OKIエンジニアリングでは、独自に開発したバーンインシステムにより、MIL規格に対応した宇宙用FPGAや、車載分野などのFPGAにおいて高信頼性の確保のため、ご要求に応じてスクリーニングを実施します。FPGAへのデータ書き込みから、LSIテスターによる電気的特性試験も含みワンストップで対応いたします。

バーンインシステムの特徴

• 長大なテストパターンの実行が可能（最大10Mステップ）
• 最大256本の信号端子に対応
• 平行して最大5種類の異なるデータ書込み品のパターンが可能

対応部品（Actel製）

スクリーニング手順

使用装置

電子デバイスのスクリーニングで小惑星探査機「はやぶさ」に貢献

「はやぶさ」功労者感謝状を受章

OKIエンジニアリングは、小惑星探査機「はやぶさ」の信頼性向上に電子デバイス（FPGA）のスクリーニングを通じて貢献しました。この貢献に対し、「はやぶさプロジェクトサポートチーム」の一社として、平成22年12月、海江田宇宙開発担当大臣、高木文部科学大臣より感謝状を受賞しました。

• デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
• 信頼性評価
• 電気的特性測定・評価
• スクリーニング試験
  • スクリーニングフロー例
  • 専用の治具製作によるスクリーニング
  • バーンイン試験
  • 受動部品のスクリーニング
  • FPGAのスクリーニング
  • 電子部品の市場流通品に対するスクリーニング（模倣品対策）
• LSIテスト
• 主要設備
• よくあるご質問（FAQ）

お問い合わせ