デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

電子部品の市場流通品に対するスクリーニング(模倣品対策)

近年、ICやトランジスタ等の電子部品の市場流通品(市場在庫品)において劣化品(保管が悪い部品)、使用済み品(リマーク品)、模倣品が急増しております。電子部品は、産業、自動車、防衛、航空宇宙分野等のあらゆる製品に使用されており、誤って模倣品など不良品を使用すると、自社製品への信頼失墜や製品製造コストの増加、さらには消費者への安全に対する脅威となります。OKIエンジニアリングは電子部品の市場流通品に対するスクリーニングをワンストップでご提供いたします。また、模倣品に関しては、これらの問題を背景にJIS Q 9100:2016(※1)にて、新たに”8.1.4模倣品の防止”が要求事項として追加されております。

  • ※1:JIS Q 9100は、ISO 9001をベースに航空宇宙産業特有の要求事項を織り込んだ、日本で制定された世界標準の品質マネジメント規格です。(日本品質保証機構より引用)
  • 市場流通品の電気的特性を行い、スクリーニングいたします
  • LSIのようなテストパターンが必要な半導体部品についても、デバイスのデータシートからテストパターンとテストプログラムを作成して機能特性、DC特性、AC特性等の詳細な電気的特性測定を実施いたします
  • 高温保存試験、高温動作試験、温度サイクル試験等の環境試験のストレスを印加して不具合品を効率よくスクリーニングすることが可能です

市場流通品スクリーニング実施例

対象試料
メモリ(Flashメモリ、EPROM、DRAM等)、LSI(DSP、マイコン、PLD、GateArray)、小規模LogicIC、ホールIC、ADまたはDAコンバーター、オペアンプ、トランジスタ、ダイオード
概要
当社の2014年~2016年の実績として、メモリ、マイコン、AD/DAコンバータなど約30品種の市場流通品をスクリーニングを実施した。その結果、10品種で不具合が確認され、その中でも模倣品が3品種確認した。

コントローラLSIの閾値(Vth)特性劣化の調査事例

対象試料
コントローラLSI
概要
市場流通品を購入して自社製品に使用、市場に出荷した後、動作不良が発生。調査した結果、高温通電試験で該当部品の閾値(Vth)特性に劣化が確認された。高温通電試験のスクリーニングを実施することで、特性劣化品の混入を防いだ。

Vth変動グラフ 良品および特性劣化品

汎用LSIの特性劣化品の調査事例

対象試料
汎用LSI
概要
市場流通品購入時にスクリーニングを実施した。その結果、入力リーク電流測定で、メーカー規格を超える不具合品の混入が確認された。不具合品を取り除くことで、製造前に未然に防ぐことができた。

入力リーク電流 測定値分布図
入力リーク電流 測定値分布図

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