テストベクタが入手できない汎用デバイスのテストベクタ作成をはじめ、旧型テスターのテストベクタの変換やシミュレーションパターンからテストベクタへの変換等のサービスを提供します。データシートからテストベクタを新規に作成し、1個からスクリーニング測定を実施いたします。
本事例は、開発品のADCのテストプログラムを開発し、温度特性・SHMOO・特性分布等、詳細に特性測定を実施したものです。開発品の設計データを御提供いただき、テストプログラムを開発いたします。測定に必要な測定ボードも設計・製作いたします。
テストベクタが入手できない汎用デバイスのテストベクタ作成をはじめ、旧型テスターのテストベクタの変換やシミュレーションパターンからテストベクタへの変換等のサービスを提供します。
豊富な実績、経験に基づき、お客様一人一人のニーズにあわせた、柔軟なご提案を得意としております。
テストベクタ作成・変換について、ご質問・ご要望などございましたら、何でもお気軽にお問い合わせください。
市場在庫品のテストプログラム開発(テストベクタ作成・変換)
テストプログラム開発実績 | |
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ロジック | CPU(80386)、DSP(TMS320P25)、CAN(Am7968)、 X86系周辺コントローラー |
メモリ | Flash、,E2PROM、SDRAM |
リニア | オペアンプ、コンパレータ |
個別半導体 | トランジスタ、ダイオード、ホトカプラ |
測定に必須なボードの設計・製作サービスを提供します。
ウエハ用プローブカードの設計・製作サービスを提供します。