デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

テストプログラム開発支援業務

テストベクタが入手できない汎用デバイスのテストベクタ作成をはじめ、旧型テスタのテストベクタの変換やシミュレーションパターンからテストベクタへの変換等のサービスを提供します。データシートからテストベクタを新規に作成し、1個からスクリーニング測定を実施いたします。

開発品のテストプログラム開発

本事例は、開発品のADCのテストプログラムを開発し、温度特性・SHMOO・特性分布等、詳細に特性測定を実施したものです。開発品の設計データを御提供いただき、テストプログラムを開発いたします。測定に必要な測定ボードも設計・製作いたします。

ADCテストプログラム

  • ロジック&アナログ(ADコンバータ)
    ロジック部:シミュレーションデータ(VCD)を支給
    アナログ部:12BitADC
  • Vdd=0V,Vss=-3V
  • 65μV/1LSB

ADCのマージン測定

  • ウェハの高温、低温温度特性に対応。
  • SHMOOプロット
    VccVIH/VIL,Vcc-VOH/VOL,/・・・
  • 各パラメータの特性分布
    (Lot依存、VTH依存、温度特性・・・)

市場在庫品のテストプログラム開発(テストベクタ作成・変換)

テストベクタが入手できない汎用デバイスのテストベクタ作成をはじめ、旧型テスタのテストベクタの変換やシミュレーションパターンからテストベクタへの変換等のサービスを提供します。
豊富な実績、経験に基づき、お客様一人一人のニーズにあわせた、柔軟なご提案を得意としております。
テストベクタ作成・変換について、ご質問・ご要望などございましたら、何でもお気軽にお問い合わせください。

市場在庫品のテストプログラム開発(テストベクタ作成・変換)
市場在庫品のテストプログラム開発(テストベクタ作成・変換)

テストプログラム開発実績

テストプログラム開発実績
ロジック CPU(80386)、DSP(TMS320P25)、CAN(Am7968)、
X86系周辺コントローラ
メモリ Flash、,E2PROM、SDRAM
リニア オペアンプ、コンパレータ
個別半導体 トランジスタ、ダイオード、ホトカプラ
用途:(ボード含む)
ウエハプロービング用、ファイナルテスト用、特性評価用(開発、採用)、信頼性評価用、スクリーニング用(宇宙防衛向け、自動車向け)
デバイス:
ASIC、FPGA、CPU、DSP(32bit)、通信系(CAN、FDDI等)、ビデオ系(120MHz)、メモリ(SRAM、DRAM、Flash等)、リニアIC、D/A、A/D(16bit程度、1LSB=1.2mV)

測定ボード・治具作成

測定に必須なボードの設計・製作サービスを提供します。

プローブカード設計・製作

ウエハ用プローブカードの設計・製作サービスを提供します。

デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2366

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