デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

LSIテスターによる電気的特性測定・評価 :室温以外に高低温で実施

LSIテスターによる電気的特性測定・評価

LSIテスターによる特性測定、特性評価（AC特性実力値測定やマージン測定等）を室温以外に高低温で実施します。

OKIエンジニアリングの主要なLSIテスト環境をご紹介します。

少量多品種に対応し、対象デバイスに対応したテストボード製作、テストプログラム作成も対応いたします。

LSIテスター、温度環境試験システム1

LSIテスター、温度環境試験システム2

MCMの電気的特性

本事例は、開発品の1000pinクラスのMCM（CPU&メモリ）用に、測定ボードを設計・製作し、実装形態別に測定を実施した事例です。

デバイスの電気的特性測定において、PASS/FAILの選別だけでなく、AEC-Q100等の信頼性試験前後での特性変動を把握するための統計処理も対応いたします。測定環境は温度環境試験システム（サーモストリーマ）により、温度範囲-55℃～150℃で実施可能です。

デバイス統計処理例

Cpk（工程能力指数）: 工程能力（Process Capability）とは、定められた規格限度内で製品を生産できる能力のことで、その評価を行う指標が工程能力指数です。一般に Cpk が 1.33 以上であれば、工程能力としては十分です。

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