CTS社製テスター向けテストソリューションサービス

CTS社製テスター(CX1000D)
OKIエンジニアリングは、Cloud Testing Service株式会社(以下、CTS社)のテスターCX1000P、CX1000D向けのテストプログラム開発および治具製作から評価、解析や従来のテスター環境からCTS社製テスターへの移管をワンストップでご提供いたします。また、テスターレンタルサービスもご提供いたします。
CTS社製CX1000P、CX1000Dは、IT/クラウドを活用した新しいテスティング・サービス「CloudTesting™Service (CTS)」※1の柔軟かつ迅速なテスティング・サービス「所有する」から「利用する」テストシステムが利用可能です。
- ※1:「CloudTesting™Service (CTS)」とは、最新のテスティング・ソリューションとクラウド・コンピューティングを融合させた、お客様のニーズに合ったテスティング環境をオンデマンドでご利用いただける新しいコンセプトの半導体テスティングです。月額課金制のTesting IPと呼ぶソフトウェアを組み合わせることによって、測定対象に応じた測定環境を自由に構築できるテストシステムです。必要な時に、必要な機能を、必要な分だけ、利用することができます。
- 豊富なテストプログラム開発実績:CPU,画像処理IC,通信用IC,AD/DAコンバータ,メモリIC(フラッシュメモリ,SDカードなど)
- 株式会社アドバンテストの各種テスター環境(MOST,TDL等)からCloudTesting Labへの移管に対応
- BOST(Built Out Self Test)、GPIB(General Purpose Interface Bus)を利用した外部測定機器制御を含めたトータルのテスト環境を構築が可能
- テスターレンタルサービス:当社施設内のCTS社製テスターを有償にてご利用いただけます。
全ての測定アルゴリズムや解析ツールを搭載したデモ機を用意しています。当社の信頼性評価、故障解析環境と組み合わせた環境をご覧いただけます。
CX1000Dを利用したリレーテスト環境構築
CTS社製CX1000DはロジックIC向けテストシステムですが、本機器を用いてリレーのテスト環境を立ち上げました。
方法
CX1000DのGPIB、CW制御IPを用いて、外部機器および接続結線を制御し、リレーの特性を取得
外部機器としてコイル用電源、接点確認用マルチメーター、絶縁抵抗用SMUを使用
測定項目

- コイル抵抗
- 電圧印加抵抗測定
- 動作電圧
- 規格のMax電圧を印加し動作確認
- 復帰電圧
- 規格のMin電圧を印加し復帰確認
- 接点接触抵抗
- 接点の接触時の抵抗測定(ケルビン法にて)
- バウンスタイム
- 接点オン後をファンクションテストにて確認
- 絶縁抵抗
- 接点間の絶縁抵抗を測定
基本構成
機能特性試験用

絶縁抵抗測定用

使用機器
- メインテストシステム
- CTS製 CX1000D
- コイル用外部電源
- 200V対応
- 接点用マルチメーター
- ケルビン法により接触抵抗測定対応
- 絶縁抵抗用SMU
- 500V印加による電流測定
各種信頼性評価試験サービス
測定技術支援
- ※2:TDDB(Time Dependent Dielectric Breakdown)酸化膜経時破壊評価
- ※3:TZDB(Time Zero Dielectric Breakdown)酸化膜瞬時絶縁破壊評価
- ※4:HCI(Hot carrier injection)ホットキャリア注入評価
解析・観察・分析