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デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価
eMMC信頼性評価： 不揮発性メモリの信頼性評価をワンストップでご提供
eMMC信頼性評価
- 不揮発性メモリのデータシートから読み取れない実力評価が可能
- 不揮発性メモリの評価環境構築、試験実施から物理的不具合解析までワンストップにて対応
- SNIA SSS PTS規格準拠の性能評価を実施
SNIA SSS PTS規定準拠の性能評価項目
- Throughput Test
- IOPS Test
- Latency Test
- Write Saturation Test
- Host Idle Recovery Test
- Cross Stimulus Recovery
eMMCのread／write耐性およびデータ保持耐性試験事例
eMMC（3社、各3個）マルチチップパッケージ（コントロールチップ＋NAND型フラッシュチップ）を常温／高温エンデュランス評価、リテンション評価（データ保持時間）、リテンション評価（読出し時間の推移）を行った。A社については、リテンション評価結果から寿命予測を行った。
対象試料
評価事例
不揮発性メモリの信頼性評価の特長
- データシートから読み取れない実力評価が可能
- エンデュランス（書き換え回数）、データリテンション（データ保持）、IOPS（Input／Output Per Second ）等の各種実力評価が可能。
- 共通の評価条件で実力評価が可能
- 異なるメーカー、品種を共通の評価条件で実力評価が可能。
- 使用装置の要求に応じた柔軟な試験が可能
- 書き込みシーケンス、書き込み回数、読み出し回数、読み出し時間等の設定に柔軟に対応。
- 詳細なエラー情報取得可能
- エラー発生時のバッドブロック情報のほか、エラーフラグから、どの時点でエラーが発生しているか等の詳しい情報が入手可能。
- デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
- WEBからのお問い合わせ：お問い合わせフォームはこちら
電話：03-5920-2366
