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デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

eMMC信頼性評価

  • 不揮発性メモリのデータシートから読み取れない実力評価が可能
  • 不揮発性メモリの評価環境構築、試験実施から物理的不具合解析までワンストップにて対応

eMMCのread/write耐性およびデータ保持耐性試験事例

eMMC(3社、各3個)マルチチップパッケージ(コントロールチップ+NAND型フラッシュチップ)を常温/高温エンデュランス評価、リテンション評価(データ保持時間)、リテンション評価(読出し時間の推移)を行った。A社については、リテンション評価結果から寿命予測を行った。

対象試料

マルチチップパッケージ(コントロールチップ+NAND型フラッシュチップ)
eMMC(3社、各3個)マルチチップパッケージ(コントロールチップ+NAND型フラッシュチップ)

評価事例

  • 常温/常温エンデュランス評価
    常温/高温エンデュランス評価
  • リテンション評価 データ保持時間
    リテンション評価 データ保持時間
  • リテンション評価 読出し時間の推移
    リテンション評価 読出し時間の推移
  • IOPS(Input/Output Per Second )評価
    IOPS(Input/Output Per Second )評価
  • A社のリテンション評価結果(アレニウスプロット)
    A社のリテンション評価結果(アレニウスプロット)
  • eMMC 3社の評価結果
    eMMC 3社の評価結果
  • 自社開発の評価ボード
    自社開発の評価ボード

不揮発性メモリの信頼性評価の特長

データシートから読み取れない実力評価が可能
  • エンデュランス(書き換え回数)、データリテンション(データ保持)、IOPS(Input/Output Per Second )等の各種実力評価が可能。
共通の評価条件で実力評価が可能
  • 異なるメーカー、品種を共通の評価条件で実力評価が可能。
使用装置の要求に応じた柔軟な試験が可能
  • 書き込みシーケンス、書き込み回数、読み出し回数、読み出し時間等の設定に柔軟に対応。
詳細なエラー情報取得可能
  • エラー発生時のバッドブロック情報のほか、エラーフラグから、どの時点でエラーが発生しているか等の詳しい情報が入手可能。
デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価のお問い合わせ先
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電話:03-5920-2366

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