デバイス／モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

SiCパワー半導体のAC-BTI試験：自社デバイスの信頼性確保や、部品選定および製品設計に必要な情報の取得をサポート

SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／DGB試験／GSI試験）JEITA EDR-4713 Amend.1 附則書E、JEDEC JEP195、AQG 324規格対応

Siよりも優れた性質（高耐圧、低損失）を持つSiCを用いたパワー半導体が注目されています。一方で、SiCパワー半導体の一つであるSiC MOSFETにはSi MOSFETでは見られない固有の劣化モード（AC-BTI）があり、スイッチング動作によるACストレスによりしきい値電圧がシフトする場合があることが確認されています。
AC-BTI※試験は、SiC MOSFETのゲートにACストレスを印加し、しきい値電圧のシフト量を評価する試験です。OKIエンジニアリングは本サービスにより、自社デバイスの信頼性確保や、部品選定および製品設計に必要な情報の取得をサポートいたします。

AC-BTI試験は、規格によって名称が異なります。