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デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

不揮発性メモリのエンデュランス/リテンション試験自動車向け電子部品評議会の各種信頼性試験「AEC-Q100」に対応

AEC-Q100は、オートモーティブ集積回路(IC)のための各種信頼性試験の規格です。OKIエンジニアリングでは、車載用半導体向け規格AEC-Qの各種信頼性試験を行っています。

不揮発性メモリのエンデュランス(データ書換)/リテンション(データ保持)試験

AEC-Q100規格のエンデュランス試験では、231個の不揮発性メモリへ短期間に高頻度でライト/リードを実施することが要求されます。このために全不揮発性メモリへ同時ライト、同時リード、同時コンペアチェックを可能とするシステムを構築しました。OKIエンジニアリングでは不揮発性メモリのエンデュランス(データ書換)/リテンション(データ保持)試験を実施いたします。

不揮発性メモリの信頼性試験システムの特徴

  • 全不揮発性メモリへの同時ライト/同時リード/同時コンペアを実施
  • 固有の電源投入初期化制御に対応
  • 不揮発性メモリのコンペアエラーを監視し、エラー情報(累積エラー回数、累積ライト/リード回数、エラーアドレス、エラーデータパターン、エラー時の期待値、累積エラー回数)を231個それぞれ個別に記録可能
  • エンデュランス/リテンション試験システムの構成
    エンデュランス/リテンション試験システムの構成
  • 自社開発したエンデュランス/リテンション試験の制御部ボード
    自社開発したエンデュランス/リテンション試験の制御部ボード

試験内容

不揮発性メモリのエンデュランス(データ書換)試験
  • 試料数:77個/ロット×3ロットにより合計231個の試験を行う。
  • 試験方法:試験温度は70℃、試験時間は120時間、試験中不揮発性メモリ全領域へライト/リード/コンペアチェックを繰り返す
不揮発性メモリのリテンション(データ保持)試験
  • 試料数:77個/ロット×3ロットにより合計231個の試験を行う。
  • 試験方法:エンデュランス試験を実施した試料に対して、全領域へ1回書込みを実施し無通電で150℃の環境下に2時間放置後、常温に戻して書込みしたデータが揮発していないか確認する
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