2026年9月30日

◆━━━━━━━━ OEGメールマガジン 2026.9.30 発行 ━━━━━━━━━◆
◆目次◆
1. プレスリリース
◇ SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」を強化
　 ～評価範囲の拡大と試験時間の最大75%短縮により、製品開発の効率化を支援～
https://www.oeg.co.jp/semicon/SiC.html
2. サービス情報
◇ 測定器の校正でお困りではありませんか？
https://www.oeg.co.jp/keisoku/proofreading.html
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1. プレスリリース
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◇ SiCパワー半導体の「AC-BTI試験サービス」を強化
～評価範囲の拡大と試験時間の最大75%短縮により、製品開発の効率化を支援～
当社は、SiCパワー半導体のAC-BTI試験サービスを2024年9月から提供してきましたが、このたび、製品用途の拡大に伴うお客様の要望や、欧州の信頼性規格AQG 324の改定に対応するため、新たに試験装置を開発し、2026年11月2日よりサービス提供を開始します。
幅広い試験条件への対応や多角的な特性把握が可能となり、実使用環境に近い評価を実現します。
さらに、スイッチング動作の高速化により、試験時間を従来比最大75%短縮します。
なお、本サービスは、マリンメッセ福岡で開催中の「九州半導体産業展」でも展示・ご紹介いたします。
→SiCパワー半導体のAC-BTI試験 詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/semicon/SiC.html
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2. サービス情報
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◇ 測定器の校正でお困りではありませんか？
製造現場や品質管理で使用する測定器について、次のようなお悩みはありませんか。
・校正期限が近づいている
・複数の測定器をまとめて校正したい
・校正証明書やトレーサビリティ関連書類を準備したい
・校正の依頼先や納期を見直したい
当社では、さまざまな測定器の校正サービスを提供しています。
校正をご検討中の測定器がございましたら、機種名・型式・台数などをお知らせください。
対応可否やお見積もりについてご案内いたします。
測定器の校正に関するご相談は、お気軽にお問い合わせください。
→測定器校正の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/keisoku/proofreading.html
→ご依頼の流れ・お問い合わせ
https://www.oeg.co.jp/keisoku/mitsumori.html
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