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OEGニュースメール: 2024年12月25日配信メルマガ

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2024年12月25日

◆━━━━━━━━ OEGニュースメール 2024.12.25発行 ━━━━━━━━━◆
◆目次◆
1. サービス情報
◇ 大型走査型電子顕微鏡を用いた実装評価のご提供
https://www.oeg.co.jp/Rel/whisker.html
◇ 硫黄系ガスによる不具合の原因究明をお手伝いします
https://www.oeg.co.jp/env_meas/fpd.html
2. イベント情報
◇ ネプコンジャパン(2025年1月22日~24日、東京ビッグサイト)に出展
https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide109.html
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1. サービス情報
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◇ 大型走査型電子顕微鏡を用いた実装評価のご提供
当社は直径300mmまでの大型試料を扱える走査型電子顕微鏡(SEM)を導入し、
はんだ接合部、ウィスカ観察、プレスフィット接続などの評価に活用しています。
このSEMを用いることで、基板、モジュールなどの対象試料を切断加工すること なく観察が可能で
あり、さらに附帯のEDXによる元素分析も、加工による汚染が ない状態で実施できるため、
お客様の多様なニーズに応えることが可能です。
→「ウィスカ評価試験」の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/Rel/whisker.html
→「プレスフィット端子部品の実装基板評価」の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/Rel/pressfit.html
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◇ 硫黄系ガスによる不具合の原因究明をお手伝いします
  ~硫黄系アウトガス分析サービス・各種硫黄成分分析~
電子回路基板ではしばしば硫黄系ガスによる腐食が不具合の要因となります。
当社では独自に開発した検出手法で硫黄系ガスを高感度・高効率に分析します。
材料から発生する硫黄ガス、加硫ゴム中の単体硫黄(S8)の分析など、腐食で
お困りのことがございましたらご相談ください。
→「硫黄系アウトガス分析」の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/env_meas/fpd.html
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2. イベント情報
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◇ ネプコンジャパン(2025年1月22日~24日、東京ビッグサイト)に出展
当社は2025年1月22日~24日に東京ビッグサイトで開催される ネプコンジャパンに出展いたします。
最新の試験・評価・解析サービスを紹介するほか、ブース内セミナーで 技術解説も行います。
ぜひご来場ください。
→展示会のご案内、セミナー聴講お申し込みはこちら
https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide109.html
【ブース内セミナーのテーマ紹介】
・電子機器・電子部品に影響を及ぼすアウトガス分析
・ものづくりにおけるEMC(電磁両立性)
・充放電サイクルを行ったリチウムイオン電池の安全性評価
・AEC-Q試験概要
・材料評価におけるオゾン試験と事例紹介
・車載用コネクター評価
・ものづくりの品質管理に必要な計測器校正
・カーエレクトロニクスの品質・信頼性を確保するための故障解析
・SiCパワー半導体のAC-BTI試験
 ※テーマは予告無く変更することがございます。ご了承ください。
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★ 本メールに関するお問い合わせ先 ★
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→ WEBからのお問い合わせはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k043
→ OEGニュースメールのバックナンバー(一部抜粋)はこちら
https://www.oeg.co.jp/company/oeg_backnumber.html
→ 個人情報の取り扱い・プライバシーについて
https://www.oeg.co.jp/company/privacy_policy.html
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※このメールマガジンは等幅フォントで作成しております。
※このメールは当社とお取引のある方、当社営業担当者が名刺交換をさせて
いた だいた方および展示会、セミナーなどでアンケートにご回答いただいた方へ
お送 りしております。
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発行 沖エンジニアリング株式会社
https://www.oeg.co.jp/
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2024年12月25日配信のタイトル

『大型走査型電子顕微鏡を用いた実装評価|硫黄系ガスによる不具合の原因究明』

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