2023年4月7日

━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━◆ 2023.4月号 ◆━
こんにちは。 OEGニュースメール4月号をお届けいたします。お客様にとって お役に立つ専門的な技術解説、新サービス情報、キャンペーン、イベント情報 などをお届けするメールマガジンです。
◆◆◆◆◆━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━◆ 2023.4.7 発信 ◆━
◆◆◆◆ 沖エンジニアリング株式会社
◆◆◆ OEGニュースメール
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◆目次
1. サービス情報
　◇ 消化ガス中の低分子シロキサン障害とは
　◇ 部品搭載基板の故障原因を非破壊で特定するロックイン赤外線発熱解析
　◇ 計測器校正のアウトソーシングをご検討の企業、担当者様に朗報
　　 計測器の管理のわずらわしさから解放します
2. 展示会、セミナー情報
　◇【受付中】人とくるまのテクノロジー展 2023 YOKOHAMAに出展
　　　　［開催日：2023年5月24日[水]～26日[金]パシフィコ横浜
3. 資料ダウンロード、SNSのご案内
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1. サービス情報
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　◇ 消化ガス中の低分子シロキサン障害とは
消化ガスとは、バイオガスの一種で、メタンを主成分としており、下水汚泥等 の嫌気性発酵により発生させたものです。消化ガスは消化槽の加温や発電、焼却 設備補助燃料等に利用されています。
下水汚泥には様々な成分が含まれていますが、シャンプーや化粧品などに含ま れるシリコーン成分（＝シロキサン）もそのひとつです。シリコーン成分のうち、 比較的分子量の小さいものを低分子シロキサンといい、常温プラスαで気化しま す。そのため消化ガスには、下水汚泥から気化した低分子シロキサンが不純物とし て含有しています。この消化ガスを発電機などの燃料ガスとして使用すると、 含有する低分子シロキサンが燃料ガスの燃焼とともに酸化分解し、二酸化ケイ素 （SiO2）を生成します。その二酸化ケイ素が発電機のプラグ、燃焼室、触媒など に堆積し機能を損なう状態を低分子シロキサン障害と言います。
この障害を発生させないためには、消化ガスから低分子シロキサンを除去しな ければなりません。現状の把握と適切な対策実施のためには、消化ガス中の低分 子シロキサン濃度を測定する必要があります。
OKIエンジニアリング（以下、OEG）では、消化ガス中の低分子シロキサン分析 とともに、原料となる下水汚泥中の低分子シロキサン分析も併せてご提供してお ります。ぜひご利用ください。
→　低分子シロキサン分析はこちら
https://www.oeg.co.jp/env_meas/si-o.html
→　低分子シロキサン分析のお問い合わせはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k038
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　◇ 部品搭載基板の故障原因を非破壊で特定するロックイン赤外線発熱解析
　"ものづくり"で欠かせない「部品搭載基板」の世界では、近年、小型化、高密 度化、多層化等の進展により、微細加工の技術課題、環境汚染、劣化等の信頼性 課題に加えて、故障解析の困難さ（故障箇所が特定できない）という課題が顕在 化してきています。OEGは高密度部品搭載基板の故障解析として、多数の実績を 持つロックイン赤外線発熱解析を提供しております。また、信頼性試験、劣化解析、 特性評価等を組み合わせたサービスも提供しておりますので、ぜひご利用ください。
→　ロックイン赤外線発熱解析の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/analysis/L-Inthermo.html
→　実装基板・電子部品のロックイン発熱解析事例集はこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k129
→　ロックイン赤外線発熱解析に関するお問い合わせはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k120
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　◇ 計測器校正のアウトソーシングをご検討の企業、担当者様に朗報
　　 計測器の管理のわずらわしさから解放します
計測器の校正を自社内で続けるか、アウトソーシングするかお悩みのお客様は いらっしゃいませんか？「社内校正員の退職」や「計測器の校正機材の老朽化」 をきっかけにアウトソーシングを検討されているお客様のご相談が増えておりま す。
OEGは多種多様な計測器の校正を実施しており、お客様の計測器校正一括受託 管理に対応する実績とノウハウを併せ持っております。事業所規模や、校正対象 機器数の大小に関わらず、計測器管理、校正に関する問題をお客様の立場になっ て解決いたします。この機会にぜひお問い合わせください。直近ではないが、 将来的に検討されている企業・ご担当者様からのご相談も大歓迎です。
→「計測器校正一括受注」の詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/keisoku/all.html
→　トレーサビリティチャート（全体図）ダウンロードはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k189
→「計測器校正」に関するお問い合わせはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k040
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2. 展示会、セミナー情報
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　◇【受付中】人とくるまのテクノロジー展 2023 YOKOHAMAに出展
　　　　［開催日：2023年5月24日[水]～26日[金]パシフィコ横浜
OEGは、5月24日～26日にパシフィコ横浜で開催される『人とくるまのテクノロ ジー展 2023 YOKOHAMA』に出展いたします。本展は、将来の車社会を展望する技 術展で約450社が出展します。最新の技術情報収集のためにもぜひご来場いただき OEGブースにお立ち寄りください。
◆展示会概要
会　　期：2023年5月24日[水]～26日[金] 10時～18時（最終日は17時まで）
小間番号：387
→　詳細はこちら
https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide101.html
◆ブース内セミナーのご案内（無料）
ブース内にて、当社の専門技術者がカーエレクトロニクス分野の信頼性課題と対 策について解説します。会場で優先的に座席を確保させていただくほか、オンラ インでセミナーを視聴いただけるURLをご案内します。ぜひお申し込みください。
→　聴講予約はこちら（着席いただけるよう用意します）
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k099
【セミナープログラム】
　◇ カーエレクトロニクスの品質・信頼性を確保するための故障解析
　◇ 電子部品の製造中止調査の必要性
　◇ SSDやeMMCメモリ半導体の比較評価の必要性
　◇ 半導体・電子部品の流通在庫品の真贋判定
　◇ 車載コネクターの評価
　◇ ウィスカ試験規格と試験後のウィスカ観察評価例
　◇ 車載機器に影響を及ぼすアウトガス分析（低分子シロキサン）
　◇ 車載EMC規格の動向
　◇ 焼損事故予防のためのリチウムイオン電池の良品解析
　◇ IATF16949規格における計測器校正の重要性
▼本展の入場には、来場登録が必要です。詳しくはこちら[公式サイト]▼
https://aee.expo-info.jsae.or.jp/ja/yokohama/
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3. 資料ダウンロード、SNSのご案内
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　◇ OEGの市場分野別カタログ ダウンロードはこちらから
　　https://www.oeg.co.jp/download/index.html
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　◇ OKIのFacebookはこちら
　　https://www.facebook.com/oki.japan/
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※このメールは当社とお取引のある方、当社営業担当者が名刺交換をさせていた だいた方および展示会、セミナーなどでアンケートにご回答いただいた方へお送 りしております。
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