現在位置:Home > サービス一覧 > 解析(故障/良品)・観察・分析 > 現状の非破壊検査に満足していますか?高度な解析サービスをご提供


解析(故障/良品)・観察・分析

現状の非破壊検査に満足していますか?IECQ独立試験所として高度な解析サービスをご提供

現状の非破壊検査に満足していますか?OKIエンジニアリングは電子部品・モジュールの解析に適した最新鋭のX線CT装置により、樹脂・金属の複合材料の非破壊構造解析など、優れた透過力、分解能、階調性が求められる解析が可能で、多くのお客様に満足いただいています。 こんなお悩みをお持ちの方いませんか?故障部位を絞り込みたい。対象品を破壊したくない。放射材料の構造を知りたい。旧式の装置ではぼんやりとしか見えない。 そんなお悩みはOKIエンジニアリングにお任せください!OKIエンジニアリングは電子部品・モジュールの故障解析・良品サービスを提供しています。近年、電子部品・モジュールの小型・高密度化、高機能化に伴い非破壊解析の重要性が高まっています。透過力、分解能、階調性に優れたX線CT装置は、故障解析に威力を発揮するだけでなく、高密度実装されたデバイスの構造把握にも役立ちます。 解決します お問い合わせはこちらから IECQ独立試験所として高度な解析サービスをご提供。【開発・設計】機器、モジュール、材料、または複合材料の非破壊による構造解析が可能です。例えば、機器の組立構造の把握、金属材中の巣の観察、樹脂中の難燃剤粒子の形状や分布の状態を観察等あらゆるものが観察できます。 【部品選定】購入品の品質確認、メーカー選定のために、書類審査だけでなく、サンプル評価としてX線CTによる非破壊検査を始め破壊物理解析を組み合わせた健全性評価を提案いたします。 【試作評価・耐久性試験】試作品の耐久性試験、環境試験等で発生した故障に関しては故障解析により故障要因を分析しフィードバックします。X線CTは破壊物理解析前の段階で早期に故障要因を特定するツールとして効果的です。 【量産製造歩留まり向上】製造段階で発生した不具合に対しても、工程毎に故障解析手法で対応いたします。 【市場品質向上】市場で故障が発生した場合、それが波及性の不良か偶発不良か切り分ける目的で故障解析を実施します。この場合、故障品の数量が限られるため、非破壊でどこまで故障個所を絞り込めるかがポイントになります。X線CTとロックイン赤外線発熱解析を組み合わせた非破壊解析は新しい故障解析の手法で、短絡モードの解析には最大の効果を発揮します。 【ISO/IEC17025試験所認証取得】IECQ制度の独立試験所(ISO/IEC17025に基づく)の認証を取得しており、公正で中立な第三者の立場で評価・解析等を行い国際的に通用するデータをご提供するとともに、お客様の情報を外部に漏洩しないように機密保持に努めることをお約束します。 お問い合わせはこちらから 弊社はこんな理由でお客様に選ばれております!提案力・スピード・設備・その他 お問い合わせはこちらから

解析(故障/良品)・観察・分析のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2354

ページの先頭へ