信頼性評価試験

電子部品の信頼性試験、故障・良品解析、環境試験等お客様の製品の品質確認を目的とした試験、解析を実施、改善策をご提案いたします

お客様が製造、販売、使用する製品の品質確認のための電子部品解析・診断・評価を実施しています。

信頼性評価・故障解析

電子機器から実装基板、電子部品（IC、LSI、MEMS等）、チップなどの品質を総合的に評価します。

信頼性評価の対応分野と技術ソリューション

劣化評価試験

使用中の電子部品の劣化状態を物理的または化学的に調査したり加速試験により余寿命を推定する試験です。

耐久試験

長期にわたるストレスに対する耐久性を評価するための高温・低温保管、高温バイアス試験、恒温・恒湿バイアス試験などの試験が実施可能で、ご相談により試験ジグの作製や材料の評価試験も実施いたします。

故障率試験

電子部品を規定条件下で動作させ故障状態を観測する寿命試験を実施することにより部品の故障率を求める試験です。また、故障部品の故障解析を行い、故障原因の確認も実施できます。

鉛フリー実装評価

鉛フリーはんだの実装は、はんだ組成や端子メッキなどの種類の多さから、さまざまな評価が求められております。デバイスの実装時の熱による影響や、端子のはんだぬれ性、はんだ付け部の仕上がり状態、機械的強度やその経年変化、断面観察／分析など総合的な評価を実施できます。

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プリント基板のイオンマイグレーション試験

近年、部品の狭ピッチ化、配線のファインパターン化が進み、配線パターン間の電気的絶縁信頼性がより重要になっています。イオンマイグレーション試験は高温高湿通電試験中に抵抗値変動をモニタリングすることで、プリント基板の絶縁信頼性を評価します。

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ICカード・RFID評価試験

接触型ICカードのJIS X 6305-1、ISO7816-1等の規格に準拠した各種試験、さらに実際の使用環境に応じた各種評価試験を実施いたします。また、非接触方型ICカード、 RFID（ICタグ，ICラベル）対応の各種試験、信頼性／耐久性試験方法等のご提案、お客様のご希望に沿ったカスタム試験装置の設計・製造についても対応しております。