信頼性評価試験、環境試験

ICカード・RFID評価試験

接触型ICカードのJIS X 6305-1、ISO7816-1等の規格に準拠した各種試験、さらに実際の使用環境に応じた各種評価試験を実施いたします。また、非接触方型ICカード、RFID(ICタグ,ICラベル)対応の各種試験、信頼性/耐久性試験方法等のご提案、お客様のご希望に沿ったカスタム試験装置の設計・製造についても対応しております。

非接触型ICカード、RFID評価試験方法

接触型ICカードは、外部回路と接触させるため、ICモジュールを電極で被う構造になっていますが、非接触型ICカードでは、ICモジュールがそのままの状態で実装されています。また、接触型ICカードの評価試験は、ISOやJISに定められた規格に準拠した試験方法で実施しますが、非接触方型ICカードでは、未だ標準的な試験方法がありません。このような状況に対応するため、当社では、非接触型ICカード、RFIDに関する各種信頼性試験、各種環境試験、さらに、機械的な応力が加わった場合の動的曲げ試験、動的ねじれ試験等、お客様のご希望に沿った試験をご提案、ご提供いたします。

ICカード評価試験

JIS X 6305等規格に準拠した各種の試験を実施、動的試験にも対応

2006年度導入のIC旅券(パスポート)の評価項目をすべて実施可能です。またICチップを再組立して故障部位の特定が可能です。

接触型ICカード/ICシート等評価試験
JIS X 6305-1-2003
JIS X 6322-1-2001
ISO7816-1
対紫外線試験、耐X線試験、耐交流電界試験、耐交流磁界試験、耐静磁界試験
JIS D 0205 耐サンシャイン試験
ISO3768 塩水噴霧試験
JIS X 6301-1998
JIS X 6305-1-2003
耐化化学薬品試験
浸漬(水)試験
MIL STD 202F 方法103B
JIS X6305-1-2003
高温高湿放置
MIL STD 202F 方法102A
JIS C0020-1988
温度サイクル試験
JIS D 0204
JIS C 0020-1995
JIS C 0119-1999
JIS C 0021-1995
高温放置、低温放置、高温保存試験、低温保存試験
JIS C 0028
JIS C 0020-1995
温湿度サイクル試験
温度サイクル試験
JIS C 0040-1999
ISO 10373
耐振動試験
MIL STD 202F 方法213B 衝撃試験
JIS X 6305/6.1 動的曲げ強さ
JIS X 6305/6.2 動的ねじれ特性
JIS X 6301/8.11 反り
JIS X 6305-6、7 耐静電気試験
参考資料:ICカードのEMC試験(近接型)(PDFファイル 199KB)PDF
構造解析 外観構想&断面観察

見積り依頼方法

お見積りのご依頼は、下記の見積り依頼書をダウンロードし、品名情報、試験条件詳細をご記入の上、にお送りください。

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ICカード・RFID評価試験のお問い合わせ先
WEBからのお問い合わせ:お問い合わせフォームはこちら
電話:03-5920-2354

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