化学分析(RoHS・REACH・環境)

ハロゲンフリー分析

電子材料などハロゲン化合物は、従来よりハロゲン系難燃剤材料として、樹脂材料をはじめ、広く使用されてきましたが、これらは燃焼時に有害なガスを発生することから、法規制を中心としたハロゲン系難燃剤や三酸化アンチモンを使用しないハロゲンフリー・アンチモンフリー化が強く求められています。 日本電子回路工業会(JPCA)、米国電子回路協会(IPC)では一般的に塩素・および臭素がその対象となり塩素900 ppm 臭素 900ppm 塩素+臭素1500ppm の定義となっています。さらなる信頼性の向上と低コスト化を見据えながら技術開発が進められる中、OKIエンジニアリングでは、材料中に含まれるフッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]などのハロゲンフリー・アンチモンフリー分析・評価をご提供します。

  • 電子部品材料などのハロゲン:フッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]分析
  • 各種材料中の硫黄[S]、アンチモン[Sb]分析

ハロゲンフリー分析手法(酸素フラスコ燃焼法)

当社での分析手法は、酸素フラスコ燃焼法前処理+イオンクロマトグラフ法で、試料を燃焼させて、吸収液中(水またはアルカリ吸収液を入れたフラスコ内)をのイオンクロマトなどで測定し、ハロゲン含有量を求める方法でハロゲンフリー分析を実施しています。


酸素フラスコ燃焼法前処理+イオンクロマトグラフ法によるハロゲンフリー分析

酸素を満たしたフラスコ内で試料を燃焼分解し、発生したガスをフラスコ内の吸収液に溶解させて分析試料とし、イオンクロマト法などで測定します。

酸素を満たしたフラスコ内で試料を燃焼分解し、発生したガスをフラスコ内の吸収液に溶解させて分析試料とし、イオンクロマト法などで測定

測定項目 前処理方法・測定方法 報告下限値
臭素[Br] 酸素フラスコ燃焼法ーイオンクロマトグラフ法
適用規格:JEITA ET-7304A準拠
20~50ppm
塩素[Cl] 酸素フラスコ燃焼法ーイオンクロマトグラフ法
適用規格:JEITA ET-7304A準拠
20~50ppm
フッ素[F] 酸素フラスコ燃焼法ーイオンクロマトグラフ法
適用規格:JEITA ET-7304A準拠
20~50ppm
ヨウ素[I] 酸素フラスコ燃焼法ーイオンクロマトグラフ法
適用規格:JEITA ET-7304A準拠
50~100ppm

※ 報告下限値は、妨害物質の存在等により高くなる場合があります。また、硫黄、リンなども分析可能です。

アンチモンフリー分析

三酸化アンチモン(アンチモンとして) をマイクロウェーブ分解法-ICP質量分析法で分析・評価いたします。お気軽にお問い合わせください。

測定項目 前処理方法・測定方法 報告下限値
アンチモン[Sb] マイクロウェーブ分解法-ICP質量分析法
もしくはマイクロウェーブ分解法-ICP発光分析法
10ppm
ハロゲンフリー分析に関するお問い合わせ先
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電話:03-5920-2356 FAX:03-5920-2306

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