化学分析（RoHS・REACH・環境）

シロキサン暴露試験：暴露試験槽内を一定のシロキサン濃度に保つ試験環境を構築し、0.1～500ppm程度までの濃度を長時間にわたり保持することが可能

シロキサン暴露試験

大電流対応試験の様子

OKIエンジニアリングでは、暴露試験槽内を一定のシロキサン濃度に保つ試験環境を構築し、0.1～500ppm程度までの濃度を長時間にわたり保持することが可能です。使用環境下における接点障害の再現試験やシロキサン接点障害対策品の効果を評価いたします。
400V超×10数Aなど、高電圧、大電流の様々な車載機器における試験仕様も対応できるようになりました。

シロキサン暴露試験スペック

試験濃度: 0.1～500ppm（環状シロキサン4量体の場合）
試験温度: -10～70℃（試験内容による）
試験湿度: 0～90％RH（試験温度による）
試験電圧: ～800V

シロキサン暴露試験装置

シロキサンによる接点障害再現試験サービス

シロキサンガスの暴露試験槽: 試験槽内に評価対象を入れ、一定のシロキサン濃度に保ちます。槽内は全体が均一な濃度に保つようにし、定期的に濃度測定を行います。
シーケンサー: 評価対象を動作させるための機器です。通電のオンオフなどを行います。
データロガー: 評価対象の動作状況を監視します。接点障害発生の有無などの変化を連続的に記録します。
打鍵試験機作成: 接点の打鍵部分を、スイッチを押す回数、押している時間、離している時間、押すスピード、押す角度、回路に流す電流・電圧などお客様の仕様に合わせて作成いたします。

暴露試験の様子を動画でご覧いただけます（1分48秒）

シロキサン暴露試験に関するお問い合わせ先: WEBからのお問い合わせ：お問い合わせフォームはこちら
電話：03-5920-2356

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