EMC測定・製品安全試験

近接磁界に対するイミュニティ試験IEC 61000-4-39

2020年9月、医療機器のEMC国際規格「IEC 60601-1-2:2014」の Amendment1:2020(4.1版)が発行されました。
4.1版では、IEC 61000-4-39「近接磁界に対するイミュニティ試験」が新たに追加されています。
欧州でも4.1版に対応するEN規格が発行されており、4.0版から4.1版の移行期間は2024年3月までの予定です。

近接磁界に対するイミュニティ試験

近接磁界に対するイミュニティ試験は、RFIDやIH (誘導調理器) などから放射される磁界を模擬し、磁界に対して敏感な回路や素子を持つ医療機器に対して印加する試験です。試験対象の機器の例として、コイルやホール素子などを含む医療機器だけでなく、磁界によって配線や相互接続線に誘導された電圧が、意図した機能を変える回路を持つ医療機器が挙げられています。
OKIエンジニアリングでは、IEC 61000-4-39「近接磁界に対するイミュニティ試験」に対応しています。

IEC 61000-4-39 試験条件

周波数 主な発生源 変調方式 試験レベル
30kHz(※1 IH(誘導調理器) 無変調 8 A/m
134.2kHz RFID パルス変調(変調周波数2.1kHz) 65 A/m
13.56MHz RFID パルス変調(変調周波数50kHz) 7.5 A/m
  • ※1 周波数30kHzの試験は、ホームヘルスケア環境での使用を意図する医療機器のみ適用されます。

IEC 61000-4-39 試験構成例

近接磁界に対するイミュニティ試験の構成例
近接磁界に対するイミュニティ試験の構成例

IEC61000-4-39で要求されるイミュニティ試験向けのループアンテナ

  • 30kHz/134.2kHz用アンテナ
    30kHz/134.2kHz用アンテナ
  • 13.56MHz用アンテナ
    13.56MHz用アンテナ

IEC61000-4-39 試験構成

  • 30kHz/134.2kHz用 試験構成
    30kHz/134.2kHz 試験構成
  • 13.56MHz用 試験構成
    13.56MHz用 試験構成
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