ESD試験・TLP測定

静電気イミュニティ試験

静電気イミュニティ試験

半導体デバイス単体にも、そのデバイスが搭載される上位のシステムに要求される静電気イミュニティ試験(ガン方式ESD試験)耐性が求められるようになってきました。外部電子機器とのインターフェース端子やアンテナ接続端子など、まだ特定の数端子を対象とした要求ですが、当社はこのような個別の静電気イミュニティ試験にもお応えします。試験に必要な回路基板や部材の調達を始めとして、対象端子を効率よく試験するQuick Look試験のご相談も承ります。

表1.静電気イミュニティ試験規格

試験方法 準拠規格 主な試験条件
人体モデル
HBM:Human Body Model
一般品 IEC 61000-4-2 放電容量=150pF、放電抵抗=330Ω
システムの導電性表面および結合板へ接触放電、および、絶縁性表面へ気中放電させる放電回数は、一箇所に付き10回以上。
車載品 ISO 10605
JASO D010-00
放電容量=150pF又は330pF、放電抵抗=2kΩ
接触放電と気中放電の対象部位の規定無し。放電回数は、一箇所に付き正極3回、負極3回の6回以上。

静電気イミュニティ試験装置、ESD(静電気放電)ガン

静電気イミュニティ試験対策事例

表2.静電気イミュニティ試験対策事例

対象分野 顧客業種 トラブル内容 原因と対策
ラッチアップ 車載オーディオ機器製造 イミュニティ試験の目標値未達 LCDパネルの誘導帯電によるラッチアップ。
保護抵抗の追加による対処をご提案。
HBM:Human Body Model(人体帯電モデル)
人体に蓄積された静電気の放電(ESD)によってデバイスが損傷する現象
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