第13回オートモーティブワールド国際カーエレクトロニクス技術展(カーエレ JAPAN)

ご案内
第13回オートモーティブワールドは、自動運転、クルマの電子化・電動化、コネクティッド・カー、軽量化など、自動車業界における先端テーマの最新技術が一堂に出展します。OKIエンジニアリングは「国際カーエレクトロニクス技術展(カーエレ JAPAN)」に出展いたします。最新の技術情報収集のためにもぜひご来場ください。
国際カーエレクトロニクス技術展(カーエレ JAPAN)
- 会期
- 2021年1月20日(水)~22日(金)の3日間
- 会場
- 東京ビッグサイト 南展示棟 1F
- 主催
- リード エグジビション ジャパン株式会社
- 当社ブース番号
- S6-8
- 入場
- 本展への入場には招待券が必要になります。招待券1枚につき1名様のみ有効です。
本展示会は、オフィス・ご自宅からオンラインでもご参加いただけます(事前登録制)。当社はバーチャルブースを準備し、オンライン上でもお客様をお待ちしております。ぜひご来場ください。
当社出展内容
お客さまが求める品質の実現をサポート
- 車載向け半導体・電子部品の信頼性試験 AEC-Q100 他
- 車載用コネクター評価、各種環境試験、IP保護等級試験、塩水サイクル試験 他
- LV124規格対応ワンストップ(PartⅠ:電気試験とPartⅡ:環境試験)試験サービス
- 車載EMC試験、CISPR25等各種規格試験の他、自動車メーカー規格にも対応
- FPGAのスクリーニング試験、バーンイン試験
- 車載機器に影響を及ぼすアウトガス分析(低分子シロキサン)
- IATF16949対応 計測器校正サービス
ブース内プレゼンテーション
OKIエンジニアリングブース内にて、当社の専門技術者がカーエレクトロニクスの課題とその対策について解説します。セミナー聴講をご希望の方は、こちらのフォームへ必要事項をご記入の上、お申し込みください。お座りになって聴講いただけるよう座席の確保や、お問い合わせ、ご相談等、専任技術者がブースにて待機し対応させていただきます。ぜひ、ご聴講ください。
- 日時
- 2021年1月20日(水)、21日(木)、22日(金)の各日
- 会場
- 当社ブース内
- 参加費
- 無料
- テーマ
- 車載用電子部品・機器に必須の信頼性試験
1月20日(水)ブース内セミナープログラム
- 11時00分
- ECU等のはんだ接合部、ウィスカ評価
- 11時30分
- AECQ試験概要
- 12時00分
- 良品構造解析による品質確認
- 12時30分
- LV124への取り組み ~PartⅡ 環境試験について~
- 13時00分
- 車載EMC試験概要・試験方法の紹介
- 14時00分
- 欧州WFD SCIP情報収集について
- 15時00分
- 車載機器に影響を及ぼすアウトガス分析(低分子シロキサン)
- 16時00分
- IATF16949規格における計測器校正の重要性
1月21日(木)ブース内セミナープログラム
- 11時00分
- 車載機器に影響を及ぼすアウトガス分析(低分子シロキサン)
- 11時30分
- 非破壊検査による故障解析 ~オンラインを利用した立会解析の有効性~
- 12時00分
- ECU等のはんだ接合部、ウィスカ評価
- 12時30分
- LV124への取り組み ~PartⅡ 環境試験について~
- 13時00分
- ESD評価試験
- 14時00分
- 良品構造解析による品質確認
- 15時00分
- 車載EMC試験概要・試験方法の紹介
- 16時00分
- IATF16949規格における計測器校正の重要性
1月22日(金)ブース内セミナープログラム
- 11時00分
- 車載EMC試験概要・試験方法の紹介
- 11時30分
- 良品構造解析による品質確認
- 12時00分
- AECQ試験概要
- 12時30分
- LV124への取り組み ~PartⅡ 環境試験について~
- 13時00分
- ECU等のはんだ接合部、ウィスカ評価
- 14時00分
- 非破壊検査による故障解析 ~オンラインを利用した立会解析の有効性~
- 15時00分
- 車載機器に影響を及ぼすアウトガス分析(低分子シロキサン)
- 16時00分
- ESD評価試験
演題、講演時間等につきましては予告無く変更することがございます。あらかじめご了承ください。