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化学分析（RoHS・REACH・環境）
蛍光X線分析： 非破壊での元素分析、膜厚分析、元素マッピング分析を実施
蛍光X線分析
OKIエンジニアリングでは、蛍光X線分析装置により非破壊での元素分析、膜厚分析、元素マッピング分析を実施しております。
蛍光X線分析のマッピング事例
蛍光X線分析のサービス
- 蛍光X線を用いた異物分析 資料はこちら（PDFファイル 861KB）
- 非破壊によるメッキの膜厚解析 資料はこちら（PDFファイル 1.1MB）
- RoHS指令対応 基板の有害物質マッピング分析 資料はこちら（PDFファイル 262KB）
- 蛍光X線分析に関するお問い合わせ先
- WEBからのお問い合わせ：お問い合わせフォームはこちら
電話：03-5920-2356
