新型コロナウイルス感染拡大の影響を鑑み、本セミナーは中止とさせていただきました。
ご参加予定の皆様には大変申し訳ございませんが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
現在、ありとあらゆる電子機器に半導体部品が搭載されています。半導体部品は、微細化・高集積化が進むほど静電気に敏感になるという構造的な特徴を持っています。電子部品メーカーの技術者にとってはいかに品質・信頼性を作りこみ、管理していくかが大きな課題となっています。その一方、敏感な電子部品を基板に搭載し、電子機器を完成させる電子部品ユーザーにとっても、自社組立工程の確実な静電気対策が重要になっています。本講座は静電破壊(ESD)の基礎から解説し、電子部品メーカー・ユーザー双方にとって有意義な知識を身につけていただけるよう企画しました。
併せて、実際の解析・試験の現場をご案内いたします。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
タイムスケジュール | 内容 |
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9時45分~ | 受付(氷川台本社3階) |
10時00分~12時00分 | はじめに -信頼性の意義について- OKIエンジニアリング 取締役執行役員 今井 康雄 |
ESD保護回路の設計手法 デバイス評価事業部長 加藤 且宏 |
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12時00分~13時00分 | 昼食(お弁当、お飲み物をご用意いたします) |
13時00分~14時15分 | 工程静電気管理のポイントと対策事例紹介 デバイス評価事業部長 加藤 且宏 |
14時30分~15時30分 | ESD試験方法と破壊現象(代表的な破壊モード) (ラッチアップとガン方式ESD試験を含む) デバイス評価事業部 評価技術第2グループ 市川 憲治 |
15時45分~17時00分 | ESD試験の現場見学・放電波形の検証実演 (TLP試験機によるI-V測定の実演) デバイス評価事業部 評価技術第2グループ 市川 憲治 |
17時00分 | アンケート提出後、解散 |
演題、講演時間等につきましては予告無く変更することがございます。また、終了時間が延長になる場合もございます。あらかじめご了承ください。