2024 OEGセミナー[オンライン配信]:皆様のお申し込みを心よりお待ちしております
OKIエンジニアリングは、電子部品から装置にいたるまで各種試験・評価・解析サービスを展開しておりますが、毎年、日頃ご利用いただいておりますお客様を対象に、当社の最新情報をお伝えする場として「OEGセミナー」を開催しております。
第29回目となる本年のテーマは、『サステナブル社会をリードする技術革新~新材料、新機能、長寿命化の追求と品質~』と設定いたしました。
招待講演にはJR東日本メカトロニクス様よりお二方をお招きし、当社技術者による新規技術紹介の発表に加え、今回は初中級者向けに品質・信頼性を学べるチュートリアルセッションも用意いたしました。
本セミナーは、昨年まで完全招待制(オンラインと現地でのハイブリッド形式)で行ってまいりましたが、多くのお客様からのご要望と、当社をより深く知っていただきたいとの思いから、本年度から、オンラインでの参加に関しましては過去のお取引の有無にかかわらず、広く募集させていただくことといたしました。皆様のお申し込みを心よりお待ちしております。
※諸注意
同業他社さまにはご参加をご遠慮いただいております。申し訳ございませんが、ご理解のほど宜しくお願いいたします。
タイムスケジュール | 内容 |
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12時30分~ | 会場受付 ※オンライン(Zoom)は12時30分より入室いただけます |
13時00分~13時10分 | 開会挨拶 OKIエンジニアリング 代表取締役社長執行役員 中井 敏久 |
13時10分~14時10分 | 〔招待講演〕① 改札機はどこから来て どこへ向かってゆくのか ② 駅務機器システムの長期信頼性確保について JR東日本メカトロニクス株式会社
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14時10分~14時25分 | 休憩 |
14時25分~14時50分 | 〔チュートリアルセッション〕サステナブル社会の実現と信頼性技術 ~ 劣化や、寿命評価の理解を深めるために ~ 本セミナーでは、「サステナブル社会をリードする技術革新~新材料、新規性能と長寿命化の追及と品質~」と称し、当社がこれまで培ってきた技術をベースに発展させてきたサービスや、次世代のデバイスに対応する新たな取り組みで開発された新サービスの技術を紹介します。何れのテーマも共通課題は、信頼性技術に関わる内容です。今回はじめて当セミナーを聴講される方や、この業界に入り日が浅い方のために、今年度ははじめてチュートリアルセッションとして、信頼性のキーワードとなる、劣化と寿命を中心に解説します。個々の理解を一層深める一助となれば幸いです。 |
14時50分~15時20分 | ゴム・樹脂材料(高分子材料)の劣化評価事例 ~ サステナブル材料の劣化評価を目指して ~ 持続可能な社会の形成に必要不可欠であるサステナブル材料は、多岐の事業分野にわたって利用が検討されており、新規での製品への採用をはじめ、既存製品における材料の置き換え等でも着目されています。今回取りあげるゴム・樹脂材料(高分子材料)は、サステナブル材料としての利用が検討されることも多く、本講演では材料特性評価や劣化試験について紹介します。またいくつかの劣化評価事例に関して、新規に導入した設備を用いた評価結果を交えて紹介します。 |
15時20分~15時50分 | 充放電サイクルを行ったリチウムイオン電池の安全性評価 ~ サステナブル社会に貢献する電池の安全性確認 ~ ウェアラブル機器などを長期間使用し続けることは、サステナブルな社会に貢献することになります。機器に内蔵されているリチウムイオン電池を長く使用することは、電池材料資源の利用を抑え、エネルギー消費を削減し、環境保護に寄与しています。また、発火や火災のリスクに対する安全性確保が不可欠です。リチウムイオン電池の安全性を保つためには、焼損原因の究明、新品の内部構造や製造品質の確認に加え、使用による性能低下を確認し、評価することで、新品では見えなかった弱点を顕在化させることが期待できます。当社では、充放電サイクルを行うことにより、意図的に性能を低下させた電池の解析や評価方法を構築しました。この評価を電池のサービスメニューに加えることにより、安全性の確保に寄与し、リスク評価および最適な製品設計を支援します。ウェアラブル機器を長く安全に使用することで、持続可能な社会に貢献していきます。 |
15時50分~16時05分 | 休憩 |
16時05分~16時35分 | ワイヤレス電力伝送(WPT)システムにおける相互変調エミッション ~ WPTシステムEMC評価時の留意点について ~ 非接触給電技術として、ワイヤレス電力伝送 (WPT) システムの利用拡大が携帯端末、ドローン、自動搬送車 (AGV), 電気自動車で進められています。WPTシステムを利用する機器のEMC評価における課題として、送電側と受電側との相互作用により意図しない周波数成分が発生する相互変調エミッションが注目され、CISPR 11では明文化されました。本発表は、この事象について事例を用いて紹介するものです。 |
16時35分~17時05分 | 高効率パワー半導体の新たな信頼性試験の提案 ~ SiCパワー半導体固有の劣化モード評価の紹介と製品劣化度比較事例 ~ 脱炭素社会に向けたエネルギー効率向上の鍵となるのが、パワーデバイスです。なかでも、SiCパワーデバイスは高効率なデバイスとして期待されていますが、スイッチングに伴うACストレスによって、しきい値電圧が変動するという従来のSiデバイスには見られない固有の劣化モード(AC-BTI)が確認されています。本劣化は最近になって知られてきましたが、製品の長期信頼性に影響するためデバイス選定や製品設計のうえで非常に重要となります。当社は受託試験業界で初めて、本劣化モードを評価するAC-BTI試験サービスの提供を開始しました。本発表では、市場に流通しているSiCパワーデバイスに対してAC-BTI試験を実施した結果を紹介し、本試験の重要性をお伝えします。 |
17時05分~17時10分 | 閉会挨拶 OKIエンジニアリング 取締役執行役員 岩井 泰之 |
※演題、講演時間等につきましては予告無く変更することがございます、あらかじめご了承ください。
※諸注意
同業他社さまにはご参加をご遠慮いただいております。申し訳ございませんが、ご理解のほど宜しくお願いいたします。