第3回 九州半導体産業展:最新の技術情報収集のためにもぜひご来場いただき、当社ブースにお立ち寄りください

第3回 九州半導体産業展に初出展いたします。九州半導体産業展は、半導体の設計・製造・評価など、半導体産業に関わる幅広い技術やサービスが集まる展示会です。技術交流や新たなビジネス機会の創出を促進する場として注目されています。当社は、本展示会に初めて出展し、SiCパワー半導体固有の劣化モード評価、LSIウェハテスト、LSIの信頼性評価、ESD試験・ラッチアップ試験、シングルイベント試験向けデキャップソリューション、SEE向けデキャップソリューションをご紹介いたします。LSI(大規模集積回路)のウェハテストや信頼性評価、SEE(単一事象効果)評価に向けたデキャップソリューションなど、半導体デバイスの品質・信頼性に関わるサービスをご案内いたします。SiCパワー半導体の劣化や信頼性、LSIの評価・試験、SEE評価に関する課題をお持ちの方は、ぜひ当社ブースへお立ち寄りください。試験・評価を通じて、半導体デバイスの品質向上と開発を支援する当社の取り組みをご紹介いたします。
電子部品・半導体分野 編 (5分52秒)