第39回ネプコンジャパン~エレクトロニクス検査・試験・測定展~

-
ご案内
OKIエンジニアリングはネプコンジャパン構成展の『第39回エレクトロテストジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定展』(公式サイト)に出展します。エレクトロテストジャパンには、外観・X線検査装置、テスター、環境試験・信頼性試験装置、各種分析装置などあらゆる検査・試験装置の主要メーカーが一堂に、約1,800社が出展します。最新の技術情報収集のためにもぜひ、OKIエンジニアリングブースにご来場ください。
第39回ネプコンジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定展
- 会期
- 2025年1月22日(水)~1月24日(金) 10時~17時
- 会場
- 東京ビッグサイト 東ホール2
- 主催
- RX Japan株式会社
- 当社ブース番号
- E14-32
- 入場
- 本展の入場には、公式サイトでの事前登録が必要となります。
当社出展内容
お客様が求めるより高品質を追求した、受託試験・評価・解析の様々なサービス
~試験・評価・解析のお困りごとはございませんか?~
- SiCパワー半導体のAC-BTI試験
- 信頼性試験、劣化評価、耐久性評価、故障解析
- アウトガス分析・暴露試験、化学物質調査
- 各種環境試験、特殊環境試験
- 加温耐水自動サイクル試験、車載向けオゾン試験
- 車載EMC試験、民生EMC試験
- ISO/IEC17025校正対応
ブース内セミナー
OKIエンジニアリングブースにて、幅広い分野の様々な『試験・評価・解析』をテーマに講演します。また、当日ご質問、ご相談には専任技術者が対応させていただきます。ぜひブースへご来場ください。
- 日時
- 2025年1月22日(水)~1月24日(金)
- 会場
- 当社ブース内(E14-32)
- 参加費
- 無料
ブース内セミナープログラム(3日間同じプログラムとなります)
- 10時30分
- 電子機器・電子部品に影響を及ぼすアウトガス分析
- 11時00分
- ものづくりにおけるEMC(電磁両立性)
- 11時30分
- 充放電サイクルを行ったリチウムイオン電池の安全性評価
- 12時30分
- AEC-Q試験概要
- 13時00分
- 材料評価におけるオゾン試験と事例紹介
- 13時40分
- 車載用コネクター評価
- 14時20分
- ものづくりの品質管理に必要な計測器校正
- 15時00分
- 品質・信頼性を確保するための故障解析
- 15時40分
- SiCパワー半導体のAC-BTI試験
演題、講演時間等につきましては予告無く変更することがございます。あらかじめご了承ください。
ブース内セミナーのオンライン聴講をご希望の方
1月22日(水)~3週間、オンライン(オンデマンド)の聴講が可能です。ご希望の方は、こちらのフォームからお申し込みください。オンライン用のセミナー視聴URLをメールにてご案内いたします。
